简介:TN1522003032121电子倍增级联系统中的噪声因子和增益起伏因子=Noisefactorandgainvariationfactorinaphotoelectronmultipliedcascadedsystem[刊,中]/沈锋(中科院光电技术研究所.四川,成都(610209))∥量子电子学报.—2002,19(5).—471-475提出了一个增益起伏因子,用来描述电子倍增器件增益特性的变化,并根据对电子倍增级联放大过程的分析,提出了更一般的倍增过程的统计假设,从而得到了电子倍增级联系统的噪声因子和增益起伏因子的表达式,
简介:摘要:由于BGA (Ball Grid Array球栅阵列)技术应用领域的广泛化,其BGA返修技术已被各电装企业重视。本文按照BGA元器件返修工艺流程为顺序,介绍了BGA封装器件返修技术,侧重阐述了BGA元器件返修工艺过程控制,重点论述了回流焊接温度曲线设置、BGA植球等工艺技术控制手段及工艺要求。
简介:O436.197020779泰伯衍射光场的三维分布特征=Characteristicsofthree-dimensionaldistributionofTalbotdiffractionfield[刊,中]/谭松新,苏显渝(四川大学光电系.四川,成都(610064))//光电工程.-1996,23(2).-34-41采用菲涅尔近似公式和傅里叶级数展开的方法,分析了罗奇光栅、正弦强度光栅、正弦振幅光栅的泰伯衍射光场的三维强度分布特征,给出了计算机模拟的三维强度分布图,并讨论了一些在三维传感领域有应用前景的性质。图7参12(吴淑珍)
简介:O436.197052875二元光学元件衍射效率的逐层分析法研究=Studyofdiffractionefficiencyofbinaryopticalelementswithlayerbylayeranalysismethod[刊,中]/叶钧,许乔,侯西云,杨国光(浙江大学高技术现代光学中心,浙江,杭州(310027))∥光学学报.—1996,16(10).—1350—1355提出了一种有效的分析二元光学元件衍射效率的新方法—逐层分析法,并对四台阶二元器件,就蚀刻深度误差和横向对准误差对器件衍射效率的影响进行了分析和讨论,证明用该方法分析含有横向对准误差的二元光学元件的横向衍射效率非常简便有效。图4
简介:TN2996031896光子计数探测的非线性失真及其改进的研究=Nonlineardistortioninphotoncountingandim-provingmethod[刊,中]/谭征(紫金山天文台.江苏,南京)//紫金山天文台台刊.-1995,14(2).-146-158对光子计数探测中堵塞漏计引起的非线性失真现象作了一些新的探讨和分析,提出了一套新的减少漏计的论证。该论证一旦实现,将会大大扩展光子计数探测的线性范围,进一步提高探测的灵敏度、信噪比和精度。图11参5(严寒)TN312.796031897高压超快脉冲电路研制=Generationofhigh