简介：摘要电子元器件属于电子产品中十分重要的组成部分，能够为产品功能的实现提供支持，在电子行业中，对电子元器件的质量关注度较高。但是在应用过程中，经常会由于受到某种因素影响，使得元器件发生不同程度的故障。

简介：从焊点的可靠度来讲，空洞现象会给焊点抗疲劳性带来不可估计的风险，比较严重的话，还影响焊点的电气连接与电路导通，所以空洞现象必须引起SMT业界人士的高度重视，了解引起空洞的原因。

简介：O438．12005053582二元计算全息图两种制作算法的研究=Studyontwokindsofbinarycomputergeneratedhologramproductionalgorithms[刊,中]／盛兆玄(第二炮兵工程学院物理教研室．陕西,西安(710025)),王红霞…∥光电子技术与信息．-2005,18(1)．-54-56提出基于MATLAB实现计算全息图制作的两种方法,并作了分析比较。对陈家祯等人提出的方法做了两点改进。用这两种方法制出的计算全息图在PC机显示器上进行模拟再现,取得了良好的效果。实验表明两种方法各有优点,用MATLAB绘制计算全息图比传统语言的编程算法更加简单方便。图4参5(杨妹清)

简介：传统的CMOS电路技术已经接近极限，需要使用分子器件来缩小器件尺度。本文在高于器件层次之上探讨了分子电路的结构和器件装配方法及分子电路的特性。

简介：国际半导体工艺指南（ITRS）的组织者们，迄今仍主要关注SiCMOS器件，但也在考虑非数字、非Si器件的应用，例如，无线通信。就数字电路来说，HRS的组织者们也不得不寻找Si以外的材料，在ITRS的最新版（2005年版）中，有这样的评论：随着本“指南”接近末期，器件将按准弹道模式工作，其电流增益将按与目前所知不同的参数得以增强，实际上碳纳米管、纳米线和其它高输运沟道材料（例如，Ge、Si衬底上的Ⅲ-Ⅴ族化合物薄膜沟道）是需要的。这一陈述是记载在“长期指南（2014-2020年）”部分。“准弹道”意味着载流子平均自由程和驰豫时间达到器件特征尺寸量级和工作频率量级。同时需建立新的电荷输运物理模型。

简介：目前，欧洲产半导体分立器件型号命名主要由四个基本部分组成，其中第一部分用字母表示器件使用的材料；第二部分用字母表示器件的类型及主要特性；第三部分用数字或字母加数字表示登记号；第四部分用字母对同一型号器件进行分档，详见表1。除上述基本部分外，在后面有时还用字母或数字作为后缀，

简介：对于有机薄膜器件（包括有机电致发光器件（OLED）和有机场效应晶体管（OTFT））,器件的电流机制直接决定了器件的性能,因此深刻理解其相关机理是十分必要的。虽然对于有机薄膜器件的电学性能研究较早,但是由于器件结构及有机薄膜内部影响机制的复杂性使得不同学者的研究结果很不一致。为此,文章以相同的镁银合金（MgAg）为电极,有机电子传输及发光材料八羟基喹啉铝（Alq3）为有机功能层,深入研究了MgAg/Alq3/MgAg器件的电流机制。测试及拟合结果表明,该器件为单电子器件,器件的电流属陷阱电荷限制电流机制。不同温度下的测试结果表明,随着温度增加器件电流迅速增加,这是因为随温度增加,器件中载流子的浓度和迁移率呈指数上升。

简介：本文从有关环境工程、绿色工程的概念出发,介绍了"绿色"电子元器件生产的发展历程,综合叙述并举例说明了绿色元器件生产管理和技术,提出并展望了元器件生产的"绿"化原则和前景.

简介：介绍了军用元器件采购管理的要求,重点讨论了进口元器件和国产元器件采购管理的原则和控制措施。供装备承制单位质量管理工作者和军事代表参考。

简介：O4382005021197FDTD方法对固体浸没透镜的光场分析=AnalysisoftheopticalfieldofsolidimmersionlensbyFDTD[刊,中]／张东玲(河南大学物理与信息光电子学院．河南,开封(475001)),白永林…//光子学报．-2004,33(7).-884-888采用二维时域有限差分(2D-FDTD)方法研究了高斯光束通过固体浸没透镜(SIL)的光场分布特性。模拟结果

简介：

简介：

简介：摘要：电子元器件是电子元件的基本组成部分之一，在一些小型机械仪器中也起着重要作用。常见的电子元件包括电阻、电容器、断路器等。这些电子元器件适用于短路故障事件。2018年，电子设备因电子部件短路等原因故障的概率占故障总频率的60%。一旦电子部件出现问题，在困难条件下组装的电子仪器就会直接短路甚至被破坏。基于此，对电子元器件检测及误差进行研究，以供参考。

简介：摘要：组件故障是不可避免的，但故障原因是可以预防的。只要有有效的保护设施，并有人员培训和管理，设备故障的数量就能大大减少，电子设备的可靠性也能得到提高。构件故障分析是一个长期的系统工程，任何连接中的错误或遗漏都可能导致构件故障分析失败。只有对零件故障模式有基本了解，找出故障原因，采取准确有效的改进措施，才能减少零件故障数量，降低生产成本。本文主要分析电子元器件的失效机理。

简介：摘要：当前，电子元器件的老化测试工作主要是剔除一些不符合标准的元器件，从而提升电子产品的质量。市场中对于老化测试系统在实践层面应用的方式相对较多，除去老化系统生产厂家制造的各种通用型号产品之外，半导体厂家内部也自己研发了一些用于自己应用的各类系统，对电子元器件的老化测试拥有较好的稳定性能。基于此，本文就电子元器件的老化测试进行简要分析。

简介：摘要：伴随着科学技术的发展，使得电子器件的高频、高速以及集成电路技术，得到了全面的升级与进步。在本文的分析中，主要阐述当前电子元器件的散热问题，以此保障电子元器件在实际的运行中，始终维持在一个合理的运行状态中，不会受到过热问题的影响，降低运行的频率。

简介：摘要：在我国逐步加强经济建设工作力度以来，各个行业都随之快速的发展壮大，也为电子行业的发展起到了积极的推动作用。通过大量的调查研究发现，大约有七成的电子产品都是因为静电放电而造成损伤。因为受到静电放电的影响，电子产品在运行过程中会出现各种各样的故障，对人员的身体健康和正常工作都会造成一定的损害。所以对静电造成的危害进行综合分析、总结静电出现的根源、采用积极有效的方法预防和解决静电问题具有较强的现实意义。

简介：摘要：在实际应用中，电子元器件的失效是非常复杂的，它不仅仅是整体的设计，而且包含了内部和外部的失效。如果不能有效的解决这些问题，将会使各元器件间的协作程度降低，从而使电子元器件的工作效率和功能发挥出更大的作用。电子元器件在使用过程中，常常会出现失效和故障，了解失效机理对于诊断设备的故障十分重要的。文章分析了电子元器件的失效机理。

简介：

简介：摘要：伴随制造产业的蒸蒸日上，电子产品也日益普及，迫切需要更快捷地加工、制造更多、更优质的电子产品。在电子产品中，各种元器件日益推广应用。基于可靠的装配技术，可以连接元器件，并形成电子产品。基于此，本文研究了电子元器件装配发展形势、常用技术，仅供参考。