简介:摘要:近年来,社会进步迅速,随着网络技术和嵌入式技术的迅猛发展,嵌入式系统已成为继 PC 和 Internet 之后,IT 界新的技术热点。利用嵌入式技术实现远程监控和视频数据传输已经得到了广泛的应用,为了实现这些应用,数据传输是很重要的环节。为了减轻数字逻辑电路数据处理的压力和便于数据交换,会用到很多起承上启下枢纽作用的芯片,而与这些芯片进行连接的接口技术大多是采用 SPI 接口技术。在很多高档单片机中,高效率高速的 SPI 串行接口技术作为一种标准配置,已经应用于数据交换和扩展外设。在嵌入式数据传输中,对于波特率、数据格式等有着严格限制的工业控制中,通用串口不再适用,必须对串口进行重新开发。
简介:目的为了提高芯片封装外观质量检测速度并降低检测成本,基于FPGA开发芯片引脚边缘检测系统。方法根据FPGA并行处理高效率的特点,搭建FPGA+SDRAM高性能硬件处理平台,利用QuartusII软件采用VerilogHDL硬件描述语言编写程序实现对芯片引脚进行边缘检测。结果该平台仅使用FPGA少量的逻辑资源实现对芯片引脚进行有效的边缘检测。结论该检测系统提高了工业应用中芯片引脚边缘检测的效率,同时可应用于ARM、DSP芯片封装外观质量检测。