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  • 简介:利用同步辐射X射线形貌研究晶体缺陷.是近年来发展起来的一种优良的实验方法.本文在研究LNP等晶体缺陷的同时,对这种实验方法进行了系统的探讨,讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗答问题.以及在缺陷研究中对晶体衍射的劳厄斑点的选取依据.

  • 标签: 同步辐射形貌术 晶体缺陷 实验方法 散射光 X射线衍射分析 劳厄斑点