利用同步辐射形貌术研究晶体缺陷的实验方法探讨

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摘要 利用同步辐射X射线形貌术研究晶体缺陷.是近年来发展起来的一种优良的实验方法.本文在研究LNP等晶体缺陷的同时,对这种实验方法进行了系统的探讨,讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗答问题.以及在缺陷研究中对晶体衍射的劳厄斑点的选取依据.
机构地区 不详
出版日期 2001年02月12日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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