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《北京同步辐射装置:英文版》
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2001年2期
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利用同步辐射形貌术研究晶体缺陷的实验方法探讨
利用同步辐射形貌术研究晶体缺陷的实验方法探讨
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摘要
利用同步辐射X射线形貌术研究晶体缺陷.是近年来发展起来的一种优良的实验方法.本文在研究LNP等晶体缺陷的同时,对这种实验方法进行了系统的探讨,讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗答问题.以及在缺陷研究中对晶体衍射的劳厄斑点的选取依据.
DOI
ldeyrn9zj3/2051641
作者
牟其善;张杰;官文栎;彭祖建;李可;胡秀琴;刘希玲;路庆明;马长勤;王
机构地区
不详
出处
《北京同步辐射装置:英文版》
2001年2期
关键词
同步辐射形貌术
晶体缺陷
实验方法
散射光
X射线衍射分析
劳厄斑点
分类
[理学][物理]
出版日期
2001年02月12日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
北京同步辐射装置:英文版
2001年2期
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