简介:随着集成电路设计规模的不断增大,在系统芯片SoC(SystemonaChip)中嵌入大量的SRAM存储器的设计方法变得越来越重要。文中介绍了SRAM的典型故障类型和几种常用的测试方法,同时详细分析了嵌入式SRAM存储器内建自测试的实现原理以及几种改进的March算法,另外,以16k×32bitSRAM为例,给出了SRAM内建自测试的一种典型实现,并在Altera—EPIS25上实现.
简介:串行级联连续相位调制(SCCPM)系统可以大大地提高系统的功率利用率,这使得它在无线通信领域中得到广泛应用。给出了基于外信息传输(EXIT)图的SCCPM系统的收敛性能分析及外码设计,在CPM参数给定的情况下,通过EXIT图可以找出与该调制最匹配的外码。仿真结果表明:对于同一种调制不同外码的SCCPM系统,收敛的门限不同;收敛的门限越低,性能越好。