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  • 简介:用EXAFS方法研究重金属Zn(Ⅱ)δ-MnO2上吸附微观结构及吸附机制。pH5.50,0.1M硝酸钠介质,吸附-解吸实验表明Zn(Ⅱ)δ-MnO2上吸附可逆很高.EXAFS结果表明,δ-MnO2表面上吸附态Zn2+以六配位水合离子八面体形式存在。八面体水合Zn^2+离子与δ-MnO2结构单元MnO6八面体通过共用O原子结合,形成角-角结合弱吸附.Zn-O平均原子间距为2.071A,Zn-Mn平均原子间距为3.528A。同一条等温线上随着吸附量增加,角-角结合弱吸附形式基本上没有变化。Zn(Ⅱ)δ-MnO2上较高吸附可逆是由于吸附态Zn(Ⅱ)与δ-MnO2以弱吸附角-角形式结合所导致

  • 标签: Zn/δ-MnO2吸附结构 EXAFS 重金属污染 硝酸钠 可逆性 解吸
  • 简介:采用溶胶-凝胶法制备CoMoO4催化剂,经K助化后分别在空气于400-800℃下进行焙烧,得到氧化态样品,然后经硫化制得硫化态K-Co-Mo催化剂,氧化态样品乙醇分解性能及硫化态样品CO加氢合成低碳醇反应性能进行了测试,运用X射线衍射(XRD)扩展X光吸收精细结构(EXAFS)样品进行结构表征,乙醇分解性能测试表明,催化剂表面酸性较弱,且随着焙烧温度升高变化不大,合成醇性能测试结果则显示,催化剂焙烧温度升高后,合成醇产率逐步降低,但醇选择基本不变,经400℃焙烧样品,具有最好催化活性。结构分析结果表明,氧化态样品存在多种K-Mo-O物种,且随着焙烧温度提高,钾铝之间作用增强,样品更难以被完全硫化。

  • 标签: K-CO-MO催化剂 溶胶-凝胶法 低碳醇合成 焙烧温度
  • 简介:选取不同煤化程度五种煤样并制成600℃800℃半焦,应用同步辐射小角X射线散射研究亚微观孔隙结构,得到孔径分布,孔隙率,比表面,形维数等许多结构参数,这些参数随煤化程度所制半焦温度不同大都呈现一定变化趋势。

  • 标签: 半焦 孔隙结构 SAXS研究 测试
  • 简介:软X光扫描相机是软X光时间特性进行研究主要诊断工具。我们利用同步辐射作为光源,静态性能:能量响应、增益等性能进行了相对标定,给出了软X光条纹相机能量响应曲线增益特性曲线,并与利用Henke经验公式^[1]计算给出响应曲线比较,结果与理论较符合。

  • 标签: 软X射线条纹相机 静态性能 标定 软X光 时间特性 诊断
  • 简介:本文观察到BaF2:Gd,Eu通过下转换过程实现可见光发射量子剪裁过程。Gd3+吸收一个VUV光子,通过交叉弛豫过程把能量传递给两个Eu3+,从而发射出两个可见光光子,实现量子剪裁过程。通过光谱结果计算,量子剪裁效率可达194%。

  • 标签: BaF2:Gd Eu 真空紫外量子剪裁 VUV光子 交叉弛豫 可见光光子 光谱
  • 简介:采用XAFS研究不同方法制备钛硅复合氧化物材料钛K边结构,结果表明,二氧化钛与二氧化硅复合后,钛原子配位数由原来六配位降低到3—4配位,不同二氧化钛含量样品径向结构函数及近边曲线都有不同,说明经过复合后二氧化钛结构发生改变,并且二氧化钛含量复合材料结构影响很大。

  • 标签: 钛硅复合氧化物材料 XAFS 二氧化钛 径向分布函数 近边曲线 X射线
  • 简介:本文用EXAFS三种钴基合成柴油催化剂进行了表征,结果表明Co-Zr共沉淀催化剂与Co/Zr浸渍型催化剂钴物相主要为Co3O4,Co-Zr-Si混合沉淀型催化剂钴物相主要为Co2SiO4,共沉淀催化剂钴配位数明显降低,钴锆相互分散好,接触界面大,因而反应活性高,质烃选择高,而混合沉淀型催化剂Co2SiO4物相预处理条件下难以还原,所以反应活性低,质烃选择较差。

  • 标签: 合成 柴油 Co基催化剂 EXAFS 表征
  • 简介:本文介绍用BEPC同步光做激发源,所研制平面晶体位置灵敏谱仪性能进行研究结果。用LiF(200)晶体,测得TiKα能量分辨率达14.2eV,好于质子激发结果(15eV),能清楚地分开不锈钢CrKβ与MnKα两峰,可探测一气溶胶样品Ti绝对量达10^-9-10^-10g水平。这些数据将为位置灵敏谱仪用同步光开展应用提供重要依据。

  • 标签: 同步光 激发源 PSS 平面晶体位置灵敏谱仪
  • 简介:本文主要利用X射线衍射技术研究由直流/射频磁控溅射方法制备PbZr0.53Ti0.47O3(PZT)/La1.85Sr0.15CuO4(LSCO)集成薄膜界面表面的微结构,从而给出它界面表面的均方根粗糙度,有效晶粒尺寸,应变大小,用计算反射率方法小角衍射曲线做理论模拟,从我们实验结果可见,当所制备铁电/超导薄膜PZT层厚度从48.7nm到996.0nm变化而LSCO层保持1000?不变时,PZT与LSCO应变状态不同,相差近一个数量级,同时PZT层表面的均方根粗糙度略有增加,本报告实验结果作了初步讨论。

  • 标签: 薄膜 集成器件 X射线衍射 微结构
  • 简介:当散射体系除散射体外还存在微电子密度起伏时,实测散射强度将形成对Porod定理正偏离,从而使散射体散射失真。提出了一种长狭缝准直条件下应用模糊强度校正正偏离方法:作出ln[q^3I^-(q)]-q^2曲线,用公式n[q^3I(q)]=InK'+σ^2q^2拟合大波矢区直线,求出斜率σ^2,作出ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2-q^2曲线即为无偏离Porod曲线,由此曲线再还原出无偏离散射强度,即I^-'(q)=exp{ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2}/q^3,再以醇热法合成介孔氧化锆粉体为例进行了讨论。

  • 标签: 小角X射线散射 Porod定理 正偏离 校正 介孔氧化锆粉体 醇热法
  • 简介:选取不同煤化程度五种煤样并制成600℃800℃半焦,应用同步辐射小角X射线散射研究亚微马孔隙结构,得到孔径分布、孔隙率、比表面、形维数等许多结构参数,讨论这些参数变化规律。

  • 标签: 孔径分布 孔隙率 比表面 分形维数 半焦