简介:薄膜试片测试法是一种能够全面有效地对博物馆藏展材料进行评估筛选的测试方法,对其腐蚀现象进行图象采集及进行数据化分析能够得到更为客观准确的测试结果。本工作对应该测试法设计了专门图像采集的硬件装置,采用密闭光源和彩色工业摄像机,可以得到清晰的试片图像。软件系统将采集图像、打开原始图像、图像分割处理、材料分级评价等功能模块化,并根据具体功能设计实现了基本应用的可视化界面。实验表明,该系统能够快速、准确地对藏展材料对试片的腐蚀现象进行数据化分析,使藏展材料的评估分级由人工目测走向计算机视觉计算,具有快速、客观、误差小等特点。
简介:O484.12003053737铌酸锶钡薄膜的微结构与电光性能的研究=Microstructureandelectroopticalpropertiesofstrontiumbariumniobatethinfilm[刊,中]/叶辉(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室.浙江,杭州(310027)),MelanieMTHo…//光学学报.-2002,22(10).-1170-1175叙述了使用溶胶-凝胶法在MgO(001)的衬底上制备铌酸锶钡薄膜的过程,膜层厚度可达5μm。通过X射线衍射、摇摆曲线、(?)扫描、喇曼散射光谱等方法研究了薄膜的微结构性能,实验发现,铌酸锶钡薄膜具有了较好的