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4 个结果
  • 简介:薄膜试片测试法是一种能够全面有效地对博物馆藏展材料进行评估筛选的测试方法,对其腐蚀现象进行图象采集及进行数据化分析能够得到更为客观准确的测试结果。本工作对应该测试法设计了专门图像采集的硬件装置,采用密闭光源和彩色工业摄像机,可以得到清晰的试片图像。软件系统将采集图像、打开原始图像、图像分割处理、材料分级评价等功能模块化,并根据具体功能设计实现了基本应用的可视化界面。实验表明,该系统能够快速、准确地对藏展材料对试片的腐蚀现象进行数据化分析,使藏展材料的评估分级由人工目测走向计算机视觉计算,具有快速、客观、误差小等特点。

  • 标签: 薄膜试片测试法 试片图像采集分析系统 系统模块化 计算机可视化界面
  • 简介:为改善Oddy测试法实验周期长,依靠目测判断腐蚀程度的状况研究建立了一种薄膜试片测试法,研发薄膜试片、设计成套测试容器与夹具、改变测试条件并结合数码采集腐蚀图像和对腐蚀图像数字化分析等简化藏展材料评估筛选实验操作、缩短测试时间和提高结果分级判别能力。另外,固相微萃取和气质联用仪(SPME-GC/MS)被用于表征藏展材料在挥发和降解过程中所释放的污染物成分,佐证其对银、铜和铅金属文物的潜在危害。新建薄膜试片测试法表明,14d的测试周期不仅大大缩短了测试时间,简化了操作,而且薄膜试片的使用也有利于克服人为分级的主观判断性,为数字化分级打下坚实基础。

  • 标签: Oddy测试法 金属腐蚀 纳米薄膜 SPME-GC/MS
  • 简介:Oddy测试法是一种最为常用的评估材料是否适合博物馆文物储藏与展示的测试方法,其缺点在于采用活性低的块状金属试片,需要28天的测试周期,同时试片表面平整度以及人为主观因素会影响目测结果的准确性。本工作制备了银纳米薄膜试片替代Oddy测试法中块状金属试片,以半径10mm玻璃圆片为基质,银薄膜厚度约为200~220nm。实验结果表明,采用银纳米薄膜试片后,腐蚀现象在14d后可充分显现并分化,延长至28d时腐蚀现象基本无大变化,有效的缩短了测试周期。同时尝试结合数码图像采集技术,有利于进一步的腐蚀现象数据化分析研究工作,从而得到更加客观准确的测试结果。

  • 标签: 藏展材料评估筛选 银纳米薄膜试片 Oddy测试法 图像采集