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  • 简介:过去十年间,几项技术的进步使人工智能(AI)成为最令人振奋的技术之一。2012年,GeoffreyEverestHinton在Imagenet挑战赛中展示了他的广义反向传播神经网络算法,该算法使计算机视觉领域发生了革命性变化。然而,机器学习理论早在2012年之前就有人提出,并且NvidiaGTX580图形处理器单元等微处理器使这一理论得以实现。这些处理器具有相对较高的内存带宽能力且擅长矩阵乘法,可将该神经网络模型的AI训练时间缩短至大约一周。

  • 标签: 人工智能 智能芯片 DNA 神经网络算法 Everest 机器学习理论
  • 简介:DNA芯片技术是一门新不的高科技生物技术,从它诞生的那一记得起就显示了极强的生命力和迅猛的发展势头,这一技术在公安司法鉴定特别是亲子鉴定、个体识别、法医鉴定中也必将发挥巨大的作用。

  • 标签: 司法鉴定 公安 法医鉴定 亲子鉴定 个体识别 DNA芯片技术
  • 简介:摘要:本文的核心在于探讨如何设计并应用自动化测试平台来进行芯片温度测试对性能的影响分析。我们深入探讨了芯片温度对性能的影响,这是为了引发读者对于该问题的关注和认识。接着,我们详细阐述了设计自动化测试平台的关键步骤与方法,包括系统架构、传感器选择、数据采集等方面,以期为读者提供可行的解决方案。最后,通过对该平台的应用进行分析,我们展示了其在芯片温度测试中的有效性,这不仅验证了我们的设计理念,也为芯片性能评估提供了一种新的、更加高效的方法。通过本文的阐述,读者将能够更加深入地理解芯片温度测试的重要性,以及如何利用自动化测试平台进行更加准确、可靠的性能分析。

  • 标签: 芯片测试,自动化测试平台,温度影响分析,性能评估,测试方法
  • 简介:韩国从俄罗斯、中国、新西兰友澳大利亚等国进口占全世界80%的鹿茸,是世界最大的鹿茸进口国。自2000年出现鹿疯牛病(鹿慢性消耗病,即狂鹿症),韩国开始全面禁止进口鹿茸。一些不法进口公司将尚未认定为鹿茸的北美大角鹿的角冒充俄罗斯产鹿茸投入韩国市场,造成了市场秩序的混乱。

  • 标签: DNA芯片 鹿茸 韩国 鉴别 市场秩序 进口国
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  • 简介:摘要:本文分析了芯片温度测试对性能的影响。通过实验数据和理论分析,我们确定了芯片温度对性能的直接关联性。我们讨论了不同温度下芯片性能的变化趋势,并提出了针对性能优化的策略。最后,我们总结了芯片温度测试对性能影响的重要性,并展望了未来的研究方向。

  • 标签: 芯片 温度测试 性能影响 优化策略 研究方向
  • 简介:研制人线粒体DNA(mitochondrialDNA,mtDNA)表达谱芯片,鉴定芯片的特异性和稳定性,完善芯片的制备和使用程序,优化实验参数,为线粒体功能研究提供物质基础及技术保障。以人mtDNA剑桥序列为标准,设计mtDNA编码的13种mRNA、2种rRNA和9种tRNA基因及蛋白产物定位于线粒体的核DNA(nDNA)编码的5种凋亡相关基因寡核苷酸探针。芯片点样仪点制芯片,进行荧光显示和洗脱,用其检测人宫颈癌上皮Hela细胞和人肾小管上皮Hc1细胞cDNA文库mtDNA编码基因及nDNA编码凋亡相关基因的差异表达情况。所点制的芯片扫描结果显示,样点分布均匀、清晰,规整度好,无漏点、连点。cDNA文库杂交鉴定结果显示,整张芯片荧光信号均匀一致,背景清晰,各基因重复样点杂交结果一致,各质控点能正常显示。成功制备了人mtDNA基因表达谱芯片,完善了该芯片的制备和使用程序,通过初步应用,证明所研制的人mtDNA基因表达谱芯片具有特异性高、稳定性好等优点,可用于不同组织或细胞样本cDNA文库mtDNA基因的差异表达分析。

  • 标签: 线粒体DNA 基因表达 寡核苷酸芯片 信使RNA 核糖体RNA 转运RNA
  • 简介:摘要:本文设计了一种新的测试芯片测试装置,通过更简单的结构就实现对芯片多个位置的功能检测。本设计在于提供一种通过一个电机驱动蜗轮蜗杆,再带动单凸轮轴实现多个运动的测试装置,以解决现有技术中测试芯片测试装置内部机构复杂,体积大费用高的问题。

  • 标签: 电机驱动  蜗轮蜗杆& 凸轮轴传动机构   机构研究设计
  • 简介:<正>英特尔日前宣布,公司研制出采用65nm技术的试验性芯片,并预计在2005年将成为首家生产这种芯片的厂商。目前广泛应用的芯片为130nm;而90nm芯片则预计明年初量产。英特尔称,其静态随机存取内存测试芯片上的晶体管极小,在仅一平方毫米的面积上,

  • 标签: 随机存取内存 平方毫米 测试产品
  • 简介:ARM公司近日在IEEESOI会议上发布了一款绝缘体上硅(SOI)45纳米测试芯片测试结果。测试结果表明,相较于采用传统的体效应工艺(bulk

  • 标签: 开发纳米 测试芯片 纳米测试
  • 简介:     摘要:当今,集成电路的电磁兼容性越来越受到重视,芯片电磁兼容(EMC)技术关乎整机电子系统及其周围电子器件的运行的安全可靠性,电磁兼容性。电子设备和系统的生产商努力改进他们的产品以满足电磁兼容规范,降低电磁发射和增强抗干扰能力, 集成电路(IC)的电磁兼容性(EMC)的测试方法正受到越来越多的关注,文章基于国内外资料调研和课题组的研究成果, 介绍了器件级(IC)EMC测试方面的发展现状,测试标准, 详细介绍了器件级(IC)主要的电磁兼容测试方法。

  • 标签:         标准 集成电路 电磁兼容 电磁辐射 GTEM小室 TEM小室
  • 简介:摘要:集成电路芯片设计制造,是目前国内电子设备和通信技术领域的热门话题,市场需求旺盛。在集成电路测试中引入射频测试技术,有助于射频集成电路实现产品优质化和工艺自动化建设,!确保射频集成电路高效准确测试的同时,还能节约大量作业成本,因此得到普遍欢迎。本文概括论述射频测试技术,功能和发展前景,详细介绍这项技术的作用原理,对射频测试技术进行全面分析,力求为射频集成电路测试提供更加优质的技术应用,促进电子设备和通信技术行业实现更快发展。

  • 标签: 集成电路芯片 射频测试技术 检测
  • 简介:摘要:集成电路芯片设计制造,是目前国内电子设备和通信技术领域的热门话题,市场需求旺盛。在集成电路测试中引入射频测试技术,有助于射频集成电路实现产品优质化和工艺自动化建设,!确保射频集成电路高效准确测试的同时,还能节约大量作业成本,因此得到普遍欢迎。本文概括论述射频测试技术,功能和发展前景,详细介绍这项技术的作用原理,对射频测试技术进行全面分析,力求为射频集成电路测试提供更加优质的技术应用,促进电子设备和通信技术行业实现更快发展。

  • 标签: 集成电路芯片 射频测试技术 检测
  • 作者: 王坤
  • 学科:
  • 创建时间:2023-10-17
  • 机构:中国兵器工业第二一四研究所,安徽省蚌埠市,233000
  • 简介:摘要:本文针对集成电路芯片的成品测试方案进行了研究。首先,分析了集成电路芯片测试与质量控制的重要性,介绍了现有的测试方法与技术,以及面临的挑战与需求。然后,重点关注了成品测试方案的设计与优化,包括测试流程分析、测试环境准备、测试设备与工具选择、以及测试流程规划等。接着,着重讨论了成品测试方案设计的关键要点,包括测试策略与覆盖率、故障模型与测试用例设计,以及测试数据分析与处理。最后,通过综合应用以上内容,展示了如何确保成品测试方案的有效性和可靠性,为集成电路芯片的质量控制提供支持。

  • 标签: 集成电路 芯片 成品测试
  • 简介:摘要:随着半导体集成电路生产规模越来越大,过程控制变的非常重要.作为工艺过程监控的PCM系统的自动化程度越来越高,但是在测试中仍然有很多的细节问题需要重视,否则就会得出谬误的数据,误导工艺人员,造成不必要的产品报废.文中通过对PCM测试中一些具体问题的分析,探索研究测试中一些容易忽略的细节。

  • 标签: 半导体芯片 PCM测试技术 应用
  • 简介:摘要:半导体产业的迅速发展对芯片测试系统及其直线工作台提出了更高的要求,其性能直接影响测试数据的准确性。本文介绍了芯片测试系统直线工作台的结构组成,利用有限元软件ANSYS对直线工作台的关键部件滚珠丝杠进行了模态分析,为芯片测试系统直线工作台的结构优化设计和动态性能研究提供了重要的参考数据和方法。

  • 标签: 芯片测试系统 直线工作台 动态性能