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24 个结果
  • 简介:使用本院CAT研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明,IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的,同时指出其局限性。

  • 标签: 混合信号电路 测试总线 测试实验 KLIC
  • 简介:电磁兼容(EMC)在电子产品中是一项重要的技术指标。本文介绍影响固态继电器(SSR)EMC的主要因素、试验方法和判定标准。同时,提出了测试时注意事项和给出了一组具有实用价值的结果。

  • 标签: 电磁兼容 固态继电器 光耦(光电耦合器)
  • 简介:本文主要通过对不同尺寸阻抗试样及不同大小阻抗试样的阻抗测试TDR迹线的分析,对特性阻抗模拟设计试样的尺寸及阻抗大小与PolarCITS测试系统的测试区域的选取之间的关系进行阐述,以便为特性阻抗模拟试样的设计与测试提供参考。

  • 标签: 阻抗试样 TDR迹线 探针 测试区域 测试 边界
  • 简介:测试、测量和检测设备供应商泰克公司日前宣布将收购TDSSystems公司。位于俄勒冈州奥斯威格湖地区的TDASystems公司是一家提供互联系统分析软件工具的供应商,该公司为电子测试行业的各厂商提供各种测试软件,其中就包括泰克公司。该公司提供的用于高速串行数据测试的软件将完全地融合到泰克的采样示波器产品线当中。

  • 标签: TDA 软件公司 Systems公司 收购 泰克公司 设备供应商
  • 简介:本文介绍.对于许多板来说,由于不适当的可测试性设计(DFT.designfortestability)而失去对关键节点的探测可能完全地毁坏缺陷覆盖率。

  • 标签: DFT 可测试性设计 覆盖率 探测 节点 限制
  • 简介:介绍了半导体测试中的良率数据记录格式。阐述了标准测试数据格式(STDF)的优点以及结构。给出了将STDF用于半导体测试过程中,以减少花费、增加效率、缩短良率提升时间测试数据标准化的新思路。

  • 标签: 测试 STDF FAR 良率
  • 简介:中芯国际(0981.HK)日前宣布将与合作伙伴在四川成都成立集成电路封装测试厂,业界猜测该合作伙伴可能是新加坡联合测试与装配中心公司(UTAC),但双方均不就此事置评。UTAC发言人表示,现阶段不作评论,也不会猜测任何市场传言。

  • 标签: 封装测试 新加坡 成都 公司 国际 合作伙伴
  • 简介:从flash存储器的基本工作原理出发,基于flash错误模型的总结性研究,重点对Flash-march算法、March-FT算法、BF&D算法以及Cocktail-March算法的效率进行了分析和评价,并针对不同需求的flash自测试提出了其算法选择方案。

  • 标签: FLASH 内建自测试算法 片上系统
  • 简介:日前由日本内存厂商Elpida发起组建的合资公司TeraProbe开始建设目前世界上规模最大的晶圆工厂,工厂的头一个客户将会是Elpida.,接着参与该合资公司的其他日本企业也会成为该工厂的客户。预计该工厂将会于10月投产,雇员300人。

  • 标签: 日本企业 晶圆测试 世界 合资公司 工厂 客户
  • 简介:美国高通公司宣布,与全球领先的芯片代工公司之一,中芯国际集成电路制造有限公司签署战略协议。中芯国际将采用专门的BiCMOS处理技术在其天津工厂为高通公司提供集成电路生产服务。这一合作将综合中芯国际晶片制造能力以及转包能力和高通公司在3G无线产业的领导地位,重点将放在电源管理芯片方面。

  • 标签: 中芯国际集成电路制造有限公司 美国高通公司 半导体制造 协议 电源管理芯片 测试
  • 简介:阐述了VC++语言在铁路专用变压器测试系统在线管理中的应用。重点讲述了VC++的串行通讯、归类统计和存储打印结果的实现方法。该方法中的串行通讯采用通讯控件;测试数据存储使用CstdioFile类,并用ListCtrol控件进行数据列表显示;打印采用基于对话框的打印方式。文中叙述了其它细节的软件处理。结论是VC++功能强大,采用的设计思想能够满足系统的设计要求。

  • 标签: 串行通讯 列表控件 重载 打印函数
  • 简介:采用反相方法测试台架在实际工作条件下,对ABB公司提供的实验性3.3kVIGCT进行了特性测定。这种器件在硬开关运行下的导通损耗非常小,开关损耗也降低了。这就表明一种新型大功率/中电压半导体器件已经问世,它们可以用于较高开关频率(超过1kHz)和大电流工况,以改善大功率变换器的性能。

  • 标签: 特性测试 集成门极换流晶闸管(IGCT) 反相方法测试台架
  • 简介:介绍了一种基于SST89E58RD2的中小电子产品测试的智能系统设计方案,详细描述了针对麻将机主板测试的系统实现过程,并从SST89E58RD2单片机的特性、智能测试系统方案以及后续的功能展望等方面进行阐述。

  • 标签: 智能测试 SPI下载 DI DO FLASH存储器
  • 简介:为了满足中国市场快速增长的需求,新加坡STATSChipPAC公司计划在上海兴建其第二家芯片封装测试厂。计划兴建的新设施占地30万平方英尺,邻近STATSChipPAC公司目前在上海青浦区的一家占地43万平方英尺的工厂。新厂计划从今年第三季度开始动工,并根据客户需求情况安装设备。

  • 标签: STATS 封装测试 兴建 上海 客户需求 中国市场
  • 简介:本文介绍了航天器DC-DC变换器EMC的测试项目,研究了变换器产生电磁干扰的根源及抑制方法,并对变换器EMC测试结果进行了分析总结。

  • 标签: DC-DC变换器 EMC设计测试
  • 简介:安捷伦科技公司日前推出全新的无线连通性测试仪和多商品适配器,旨在帮助无线设备制造商对802.11a/b/g/n/acWLAN、蓝牙1.0到4.0以及全球导航卫星系统(GNSS)等技术进行快速、精确的产线测试

  • 标签: 安捷伦科技公司 测试仪 适配器 连通性 无线 多端口
  • 简介:大约28年前,在"1700轧机"攻关中,有6个晶闸管制造单位承担了制造500A/2000V~2500V风冷晶闸管的课题。根据整机应用的需要,di/dt(电流上升率)达到50A/μs是一项必考指标。此前,虽然在颁布的产品标准中规定了di/dt耐量的测试线路和测试方法,但对此大功率晶闸管适用的测试设备尚未制造出来,该测试设备的研制及其对di/dt的测试实践在国内都是首次尝试。

  • 标签: 上升率测试 测试纠纷 电流上升率