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《电子元器件应用》
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2006年6期
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基于SST89E58RD2的智能测试系统设计
基于SST89E58RD2的智能测试系统设计
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摘要
介绍了一种基于SST89E58RD2的中小电子产品测试的智能系统设计方案,详细描述了针对麻将机主板测试的系统实现过程,并从SST89E58RD2单片机的特性、智能测试系统方案以及后续的功能展望等方面进行阐述。
DOI
n49e3pw7dy/436611
作者
郑蓓林;俞利明
机构地区
不详
出处
《电子元器件应用》
2006年6期
关键词
智能测试
SPI下载
DI
DO
FLASH存储器
分类
[电子电信][电路与系统]
出版日期
2006年06月16日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
电子元器件应用
2006年6期
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