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《印制电路信息》
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2001年12期
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FR—4半固化片测试新方法
FR—4半固化片测试新方法
(整期优先)网络出版时间:2001-12-22
作者:
张庆云;张魁兰;邵强
电子电信
>微电子学与固体电子学
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资料简介
本文介绍了一种新的FR-4半固化片测试方法.
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本文介绍了一种新的FR-4半固化片测试方法.
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