在Si衬底上生长高品质GaN膜

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摘要 <正>Berkeley实验室的研究人员在Si衬底上采用氮化铪(H_fN)中间层生长出优良结构和光学质量的GaN膜。这些研究人员还建立了在Si上淀积H_fN和在H_fN上淀积GaN的工艺参数。用Si衬底而不用蓝宝石衬底来生长GaN提供了很大的成本优势,并提供了GaN基器件与常规Si电子器件单片集成的可能性。
机构地区 不详
出处 《半导体信息》 2003年3期
出版日期 2003年03月13日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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