简介:摘要雷电是自然界中强大的脉冲放电过程,雷电通过铁塔沿地网损坏机房设备的现象时有发生。因此,为了提高基站的防雷能力。防止移动设备遭受雷击,确保移动通信设备的安全和正常工作,确保铁塔内建筑物以及工作人员的安全。探讨如何规避雷击通过铁塔沿地网损坏机房设备的问题,是能够在一定程度上保证机房正常运行的安全因素。
简介:摘要半导体器件在测试结壳热阻之前都要先确定其K系数,一般选择器件内部二极管的正向压降作为温度敏感参数(TSP)。现行有效的测试标准中,只是规定正向压降测试电流IM必须足够大,以保证PN结导通,但不能大到足以引起明显自热,这对实际的操作选择很困难。本文通过MOSFET和肖特基二极管作为研究对象,在不同的IM下测试K曲线进行分析,得出便于操作的方法。
简介:摘要对国际上公认的两种半导体器件结壳热阻测试方法美军标MIL-STD-750F和JEDEC标准进行对比测试研究。通过双极性晶体管和MOSFET两种不同类型的器件,用Phase12进行实测,得到了不同方法下的热阻值与曲线。分析了两种测试方法原理及测试结果的差异,科研生产提供参考。