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  • 简介:自上个世纪七十年代以来,加速器技术在放射性核素丰度分析方面取得了巨大的成绩,特别是一些半衰期较长的放射性核素,例如10Be、14C、26Al、36Cl、129I,这些放射性核素可以被利用到生物,考古学,地质学等一系列领域。随着年代的发展,加速器质谱仪的体积和能量都经历了由大到小的变化,本文就国内外加速器质谱仪的发展过程,结合广西师范大学正在筹建的桌面化加速器质谱仪,为大家阐述加速器质谱仪的发展过程及部分应用。

  • 标签: 加速器质谱仪 小型化 应用
  • 简介:锂作为最轻的金属元素,在测量中会发生显著的同位素分馏效应。国内外有关锂同位素的谱分析研究,多针对的是地质、环境、宇宙学等领域,测定的样品中锂含量都在微克以上量级。针对特殊要求,需要发展纳克量级的痕量锂谱分析技术。

  • 标签: 锂同位素 质谱测量 高精度 质谱分析技术 同位素分馏效应 金属元素
  • 简介:介于窄带和超宽之间的宽电磁脉冲系统,具有许多独特的优点:系统结构紧凑,容易做到小型化;辐射频谱宽、易于和目标耦合;具有载频,天线辐射效率高。为此,宽电磁脉冲系统具有很强的隐蔽性、突然性和多目标性。研究工作突破了快上升时间重复频率高压产生技术、宽脉冲形成技术和宽高功率天线技术等关键技术,研制了我国首套宽电磁脉冲试验系统,并开展了针对轩逸、富康等具有代表性汽车的宽电磁脉冲迫停效应实验。

  • 标签: 试验系统 超宽谱 电磁脉冲 车辆 脉冲系统 产生技术
  • 简介:高功率超宽(uwB)源是高功率微波源的一种,其辐射的超宽电磁脉冲体现出宽频带特性,在军事和民用领域具有广泛应用前景,美国和俄罗斯等都高度重视高功率超宽脉冲技术的研究和开发。

  • 标签: 高功率微波源 脉冲技术 超宽谱 电磁脉冲 宽频带 俄罗斯
  • 简介:针对表面高度均方根(RMS)难以描述大尺度波动以及刚体位移鲁棒性差的缺点,提出了使用功率(PSD)对大口径望远镜系统中主反射镜面形进行评价;结合Zernike多项式,对PSD的分解运算进行了分析,讨论了Zernike多项式的频谱能量分布;将该方法用于Φ500mm反射镜面形检测数据的处理,得出实际反射镜表面面形频域能量分布情况。结果表明:对于大口径反射镜,使用PSD的评价方式对于指导加工检测以及望远镜系统误差的分配具有更实用的意义。最后,基于PSD提出了一种评价反射镜面形的子孔径非相关拼接方法,该方法适用于大口径望远镜中大口径光学元件的面形精度评价。

  • 标签: 表面面形评价 反射镜 大口径 功率谱 ZERNIKE多项式 子孔径拼接
  • 简介:对脉冲堆而言,在无强吸收介质时,堆外任何一点的中子可近似地由热中子、1/E和裂变叠加而成。根据这一原理,利用包镉的^235U转换靶和裸^235U转换靶在固体径迹探测器上产生的裂变径迹数差,确定热中子(镉下中子);用包镉的^235U转换靶和^238U转换靶在固体径迹探测器上产生的裂变径迹数差,获得1/E和裂变

  • 标签: 快中子堆 中子谱 测量方法 固体径迹探测器 裂变径迹
  • 简介:在中微子实验不断取得进展,量子场论找到其预言的最后一个粒子——希格斯子的今天,回顾它们的缘起β衰变能量连续的发现历史,既为了纪念这段历史,也为了可以从中讨论关于物理学的研究线路具有不明确性、物理学的研究发现与研究者流动的相关性、物理学的发现需要适当的思想准备和物理学研究时做些哲学反思的必要性等方面获得启示。

  • 标签: Β衰变 能量连续谱 发现 证实 启示
  • 简介:介绍了辐射模拟加速器辐射场中脉冲X射线能的几种常用测量方法,阐述了基本原理、测量装置的典型系统组成、主要参数特性、技术发展状况和研究进展,描述了各种方法的优缺点和适用范围。以吸收法为例,综述了解技术的发展状况,并描述了多种解方法的特点。最后,重点介绍了西北核技术研究所脉冲X射线能测量的进展,并对测量系统抗噪和散射控制技术进行了评述。结合现有条件和技术成熟度,对今后工作的发展方向进行了展望。

  • 标签: 脉冲X射线 能谱 吸收法 解谱方法
  • 简介:通过对长周期光纤光栅模式耦合机理和长周期光纤光栅透射特点的详细分析,给出了仿真薄膜长周期光纤光栅透射的解决方案。该方案从大量的波长抽样点中选择那些对耦合有贡献的抽样点来计算,并且对每一抽样点只计算最有效的模次的耦合,可以在保证模拟的正确性的前提下最大限度地减少长周期光纤光栅透射仿真的计算量。以振幅掩模法(芯层折射率分布近似为矩形分布)写制的薄膜长周期光纤光栅进行了数值研究,研究中考虑了材料色散对导模和包层模式折射率的影响。研究结果表明,该方案能极大提高仿真速度。

  • 标签: 长周期光纤光栅 谐振波长 带宽 透射谱
  • 简介:研制了一台小型超宽高功率微波辐射系统,该系统由Tesla型100kV级ns脉冲源、Peaking-chopping型亚ns气体开关及TEM喇叭天线构成.系统重复运行频率为100Hz,辐射因子rEp值为75kV,主轴辐射场中心频率为520MHz,-3dB频谱范围为230~810MHz.系统集成于一便携箱内,体积为80cm×50cm×26cm,重量约45kg.该系统结构紧凑,能够快速展开和撤收,可方便用于超宽高功率微波应用技术研究.

  • 标签: 超宽谱 高功率微波 TESLA变压器 天线 辐射因子
  • 简介:新型XRD不论是响应特性,还是外形体积,都必须满足仪小型化的要求。其次,需考虑色散元件,仪仍采取滤波法。由于三倍频打靶M带辐射强度大幅度提高,高能尾部对输出信号的贡献很大,所有探测道都必须抑制高能尾部,用掠入射平面镜截止的能量就更高。用平面镜截止高能X射线的途径:一是平面镜使用高原子序数材料,二是减小掠射角。

  • 标签: X光能谱 能量精密测量 线谱诊断 滤波法 X光能谱仪
  • 简介:报道了软X光能诺仪探别元件的能量响应曲线标定工作.实验利用北京同步辐射装置-3W1B束经及反射率计靶室,在束流40—80mA、贮存环电子能量2.2GeV专用光运行模式下,在150—1500eV能区的四个能段,做了铝阴极X射线二权管、滤光片及擦入射平面反射镜能量响应标定实验,通过实验数据比对及分析,最终给出X射线二极管在不同能量段最大可能的测量误差范围。

  • 标签: 驱动惯性约束聚变 ICF 软X光能谱仪 探测元件 能量响应曲线 同步辐射
  • 简介:光学元件的加工质量以及相应的检测技术对高功率固体激光器的高效、安全运行具有重要的作用。目前,对于长焦距透镜像的检测还无法采用干涉仪进行常规定量检测。而传统使用的刀口检测仪存在不易定量,检测精度较低,具有人为操作因素等缺点,因而如何有效高精度地检测此类长焦距透镜的像是目前亟待解决的问题。提出了一种长焦距透镜像质检测的新方法,基本思想是将整个透镜波前依次划分为若干个子区域,利用朗奇光栅产生的莫尔条纹会随光束波前产生微小的变化来测量每个子孔径区域波前斜率信息并结合波前重构技术获得整个透镜的像信息。

  • 标签: 长焦距透镜 检测技术 像质 高功率固体激光器 加工质量 光学元件
  • 简介:通过传输矩阵法理论研究左手介质对一维光子晶体量子阱(AB)m(CBAABC)n(BA)m透射的影响,结果发现:当C层为双正介质时,光量子阱透射中出现2n+1条窄透射峰,当C层为左手介质时,呈现简并现象,光量子阱透射峰中仅出现2n-1条窄透射峰;当C层左手介质折射率负值增大时,光量子阱透射向禁带中心两侧移动,同时透射峰快速变窄;当C层左手介质光学厚度负值减小时,光量子阱透射向禁带中心靠拢,同时透射峰迅速变窄;光量子阱透射变窄对左手介质光学厚度的响应灵敏度高于对折射率负值的响应。左手介质对光量子阱透

  • 标签: 光子晶体量子阱 左手介质 透射谱 透射品质
  • 简介:由于Tc7.3V的高电离电位,采用传统的正离子测量方式极为困难。世界上,仅LosAlamos实验室开展过Tc的负离子谱分析技术研究。本年度采用新型发射剂,建立了Tc的负离子谱分析技术。并利用该技术结合同位素稀释质谱法标定了人工生产的^97Tc稀释剂。

  • 标签: 质谱分析技术 负离子 TC 同位素稀释质谱法 应用 测量方式
  • 简介:分析了衰减透射法测量脉冲γ射线能的原理,理论模拟了衰减透射法能探测过程,使用期望最大法对模拟结果进行了能重建,分析了重建初始及测量噪声对解结果的影响。结果表明,期望最大法能较好地解出基于衰减透射数据的脉冲γ能;测量噪声水平在1%以内,算法具有较强的鲁棒性。

  • 标签: 期望最大法 脉冲γ射线 能谱重建
  • 简介:用增益开关掺铥光纤激光器作种子源,搭建了一个掺铥光纤主振荡放大系统。该系统增益开关种子源最大输出功率约为250mW,斜效率为28.5%;脉冲宽度为56.5ns,脉冲峰值功率为221.2W,对应的峰值功率密度约为0.35GW·cm^-2,输出光谱的3dB线宽仅0.09nm,中心波长在1942nm处。经一级放大后,激光器输出功率提高到1.33W,一级放大器斜效率达48.6%。同时,峰值功率提高到1.2kW,对应的峰值功率密度达1.86GW·cm^-2。此时,受光谱仪分辨率的限制,测得的激光3dB线宽仅为0.06nm。在二级放大器中观察到了超连续输出。超连续覆盖2~2.6μm的光谱范围,3dB带宽约490nm。

  • 标签: 增益开关 掺铥光纤放大器 超连续谱
  • 简介:锂作为最轻的金属元素,在地质学、天体物理学和核工业等领域,得到了广泛的应用,这些应用都要求对锂同位素丰度进行准确测定。测定锂同位素丰度常用的方法为热表面电离质谱法,但是测量存在系统偏差,需要校正,目前所用的校正方法有标准校正法和校准质谱法。

  • 标签: 测定技术 同位素质谱 同位素稀释 同位素丰度 校准质谱法
  • 简介:描述了一种采用HPGe探测器γ能法无损测量核材料铀样品并计算样品的生产(纯化)年龄与同位素丰度的方法。该方法不需要其他任何标准源或参考源,对样品的形态(固体、液体)和形状没有限制,由铀样品自身所含多γ射线核素的γ能峰来刻度相对峰效率曲线,由能峰计数率、相对效率、γ射线发射概率等参数确定铀同位素的比值,由^234U与其衰变子体214Bi的活度比值计算其生产年龄。对一个铀总量约5g、^235U浓缩度约90%的24mL液体铀样品,用两套HPGe探测器分别测量不同能区范围的γ能:在平面型探测系统获取的低能区能中,用^235U的γ能峰刻度相对峰效率曲线,计算了^234U、^228Th(232U子体)与235U的相对比值;在同轴型探测系统获取的高能区能中,用^228Th及其子体的γ能峰刻度相对峰效率曲线,计算^238U、^214Bi与^228Th的相对比值,综合计算得到铀样品生产年龄(-32a)及铀同位素丰度,并与样品经过放化分离后,质谱法测量得到的结果进行了比较,生产年龄与丰度比偏差均在5%以内符合。

  • 标签: 高浓铀 铀年龄 丰度 Γ能谱 相对峰效率