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测试程序在不同系统上的移植

作者：武乾文;屠莉敏;周冬雁
学科：电子电信 > 物理电子学
创建时间：2003-02-12
出处：《电子与封装》 2003年第2期

简介：在集成电路生产测试过程中,在不同测试系统上互相移植程序,对发挥测试系统的利用效率、测试分析验证等具有重要意义.本文通过试验对在移植过程中应注意的问题作一探讨.
标签：集成电路测试程序移植测试系统

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