简介：本文主要阐述离体牙低温保存的研究背景、原理及冷冻保护液的作用机制,介绍低温保存的主要方法和技术,初步讨论低温保存对牙体组织生物力学性能的影响,并对离体牙低温保存的应用前景进行展望。

简介：目的：利用聚乳酸-聚乙醇酸共聚物/聚己内酯（PLGA/PCL）混纺技术在不影响纯PLGA静电纺丝膜生物相容性的前提下改良其遇水收缩的缺陷,以使其操作性能更接近临床实际应用。方法：将不同重量比的PLGA/PCL（10∶0、7∶3、6∶4、5∶5及0∶10）混合,利用静电纺丝技术制得电纺膜,表征比较纺丝直径及收缩性。在相同条件下在膜上培养成骨细胞,比较不同电纺膜的细胞相容性,并在扫描电镜下观察不同电纺膜表面形貌及细胞粘附形态。结果：随PCL比例增加,纺丝直径有所增加,但在扫描电镜下不同电纺膜表面形貌及细胞粘附形态并无明显差异;加入PCL后混纺膜的细胞相容性较纯PLGA略有下降,但仍比纯PCL高,且不同比例的PLGA/PCL（7∶3、6∶4、5∶5）混合电纺膜细胞相容性无统计学差异;纯PLGA膜呈现极大的收缩比率,随PCL的添加收缩比率明显下降,且不同的添加比例组间无明显差异。结论：在PLGA中添加一定比例的PCL可以有效改善纯PLGA膜的收缩性能,且PCL的加入对PLGA良好的生物相容性影响较小。

简介：目的：评价锥形束CT（CBCT）结合显微超声技术诊断治疗老年钙化根管的临床效果。方法：选择我院60例老年患者的108个钙化根管作为研究对象,均因传统根管治疗不能成功疏通根管,应用CBCT技术检查判断根管口的位置,根管走向及位置,再应用显微超声技术去除髓腔内及根管内钙化组织,探查并疏通根管,统计根管疏通成功率。结果：108个钙化根管中,95个根管成功疏通,成功率87.9%,根颈1/3钙化根管疏通率98.5%,根中1/3钙化根管疏通率80.0%,根尖1/3钙化根管疏通率53.8%。结论：锥形束CT与显微超声技术联合使用,对疏通钙化根管具有明显效果,为老年钙化根管提供了有效的诊治方法。

简介：2016年国家级继续医学教育项目,由解放军总医院外科临床部,口腔医学中心放射科,中国医学影像技术研究会咨询工作委员会主办的,国家级继续医学教育项目,第10届《口腔颌面影像技术与诊断学习班》【2015-09-04-026（国）】10学分,将于2016年9月在北京举行。

简介：目的探讨多曲方丝弓（MEAW）技术矫治恒牙期骨性下颌偏斜的矫治原理和临床疗效。方法选取2006-2014年就诊于苏州卫生职业技术学院附属口腔医院正畸科门诊的骨性下颌偏斜患者16例，选用0．56mm×0．71mmMBT系统托槽，采用MEAw技术进行矫治。矫治前后拍摄X线曲面断层片及头颅侧位片，并进行定点测量，对测量结果进行比较分析。结果16例骨性下颌偏斜患者平均矫治时间20个月，均取得良好的矫治效果。头影测量分析显示，治疗后下磨牙远中直立移动，平均远中直立7．63°，平均远中移动3．38mm；下前牙平均舌倾内收3.31mm；下颌骨治疗前后不对称，治疗前后颌骨改变小。结论采用MEAW技术可有效矫正恒牙期骨性下颌偏斜，为代偿掩饰性矫正。

简介：目的通过比较二硅酸锂双层瓷试件剖面影像学形貌与相应显微CT扫描成像和三维重建结果,分析显微CT与三维重建技术用于无损探测二硅酸锂双层瓷材料内部缺陷的可靠性。方法制作双层二硅酸锂双层瓷矩形试件,进行显微CT扫描;扫描后沿垂直于试件长轴将试件平均切成6段,对每段剖面进行光学显微镜观察并获取5个剖面图像。根据剖面位置确定显微CT扫描断层图像,并将显微镜图像与显微CT图像进行灰度差值匹配比对,分析显微CT对全瓷材料内部缺陷探测的可靠性与精确性。对CT扫描结果进行三维重建,比较二硅酸锂双层瓷试件内部缺陷的二维形貌与三维形貌的差异。结果显微镜图像与显微CT图像的平均相似度为（83±7.9）%;缺陷的二维剖面形貌与三维形貌存在较大差异。结论显微CT能够可靠地无损探测二硅酸锂双层瓷材料的内部缺陷结构,但对尺寸接近探测分辨率的孔洞成像较模糊。三维重建分析较二维形貌观察能更全面地反映缺陷的形貌。

简介：目的通过比较二硅酸锂双层瓷试件剖面影像学形貌与相应显微CT扫描成像和三维重建结果,分析显微CT与三维重建技术用于无损探测二硅酸锂双层瓷材料内部缺陷的可靠性。方法制作双层二硅酸锂双层瓷矩形试件,进行显微CT扫描;扫描后沿垂直于试件长轴将试件平均切成6段,对每段剖面进行光学显微镜观察并获取5个剖面图像。根据剖面位置确定显微CT扫描断层图像,并将显微镜图像与显微CT图像进行灰度差值匹配比对,分析显微CT对全瓷材料内部缺陷探测的可靠性与精确性。对CT扫描结果进行三维重建,比较二硅酸锂双层瓷试件内部缺陷的二维形貌与三维形貌的差异。结果显微镜图像与显微CT图像的平均相似度为(83±7.9)%;缺陷的二维剖面形貌与三维形貌存在较大差异。结论显微CT能够可靠地无损探测二硅酸锂双层瓷材料的内部缺陷结构,但对尺寸接近探测分辨率的孔洞成像较模糊。三维重建分析较二维形貌观察能更全面地反映缺陷的形貌。