简介：
简介：应用扩展X射线精细结构（EXAFS）技术研究了化学改性MnO2中锰及铋的结构形态。结果表明：掺杂元素铋进入MnO2的晶格，增大MnO2的不同壳层配位无定形。在MnO2-电子放电还原过程中，铋的氧化态保持稳定，MnO2没有发生结构重排。
简介：X射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段。利用同步辐射X射线反射技术和近年来发展的由反射实验数据逆向求解原子深度分布的分层逼近法，研究了不同温度下分子束外延生长的δ掺杂（Sb)Si晶体样品，成功地测量了样品中几个纳米范围内的Sb原子深度分布，所得结果表明，300℃以下是用分子束外延方法在Si晶体中生长Sb原子δ掺杂结构的合适温度。
掺杂和未掺杂蓝青铜中生长缺陷的同步辐射白光形貌观察
Si晶体中δ掺杂Sb原子的分布研究
二氧化锰掺杂改性的EXAFS研究
Sm,Eu掺杂的碱土硼磷酸盐发光材料的VUV激发光谱
稀土（RE）掺杂的碱土硼酸盐发光材料中RE—L3边的XAFS研究
同步辐射X射线反射技术及其在测量δ掺杂晶体中原子表层深度分布的应用
