简介：垫层材料在装置中常常填充部件与部件之间的间隙，并对某些部件起保护作用，垫层在以前的使用中是采用双面胶带进行粘贴，目前采用了在垫层表面表糊压敏胶的工艺以代替双面胶，由于压敏胶直接表糊在垫层表面，对垫层力学性能的影响就成为生产和使用单位关注的重点之一。研究了垫层带胶前后的厚度、压缩应力应变曲线、压缩应力松弛等性能的变化，研究结果表明：垫层涂胶后，厚度（包括胶层）比不涂胶的厚度略小0．01112111、垫层涂胶后压缩性能变硬、压缩永久变形增大、在相同应力下，应变略小2％-4％，影响最大的是应力松弛，带胶垫层的应力松弛超过了25％。

简介：底片是射线检测的评判依据，但是容易受到环境的影响而发生变化（发霉、污损）；生产中大量的底片也不便管理和查阅。将底片数字化，可以实现无失真存储，稳定性高，更便于交流和分析，利用数字图像处理技术可对缺陷进行定量分析。

简介：研究了树脂硫化剂硫化丁基橡胶材料的阻尼性能，同时对相应的阻尼机理进行了研究，以期对这类阻尼材料的阻尼机制获得更深刻的认识和了解。

简介：点面距离是高中立几中的一个重点内容，也是高考的热点之一。从平面外一点引平面的垂线段,垂足的位置不好确定，解决垂线段的位置问题是求点面距离的关键所在。转化思想是一种极其重要的数学思想,尤其在立几当中更是体现得淋漓尽致，例如把空间问题转化为平面问题，把证“线面垂直”转化为证“线线垂直”，把证“线面平行”转化为证“线线平行”，把点面距离转化为点线距离等等。下面根据我多年的教学体会，从转化的角度把求点面距离的方法大致归结为三类。

简介：应用Onshell方法研究带缺陷的二维光子晶体,缺陷的引入使得原来不透电磁波的禁带中,出现了缺陷模,即某一频率的电磁波可以透过,计算表明缺陷模的频率与透过率随着缺陷的性质及缺陷两边的层数而改变

简介：“任意反射面的速度干涉仪”VISAR（VelocityInterferometerSystemforAnyReflector）技术，已成为诊断冲击作用下样品自由面速度剖面或粒子速度剖面的主要技术。其主要优点在于能够对高速度、高加速度运动事件进行非接触的连续测试。

简介：数字图像处理技术的应用，有力地促进了缺陷定量分析与射线检测的自动化。但大多数射线检测图像噪声大、对比度不高、存在较大的背景起伏，缺陷图像的准确分割、提取则成为实际应用中的难点和关键。射线图像中缺陷的存在，在其邻域形成灰度差异；可由边缘检测方法得到相应的边缘点（奇异点）。在图像边缘检测中，一般认为在较大空间尺度（边缘检测模板）下能可靠消除误检，得到真正的边缘点，但不易对边缘精确定位：在较小尺度下对真正的边缘点定位比较准确，但对噪声敏感，误检的比例会增加。多尺度小波分析的引入，可得到比较满意的结果。用不同的小波基分析同一个问题会产生不同的结果，因此小波分析在工程应用中的一个十分重要的问题是如何选取最优小波基。双正交小波基具有紧支性和线性相位：紧支性表明不需做人为的截断，应用精度很高；线性相位可避免信号在分解和重构时的失真；小波基连续可微，这对于有效发现信号的奇异点是必要的。

简介：传统的前馈式抛物面天线辐射方式，存在馈线较长、不能沿天线轴线摆放馈线以及不方便天线旋转等缺点。随着天线口径的增大，这些不足之处对天线性能的影响越来越大，因此有必要研究采用双反射面方式实现超宽带高功率微波辐射。

简介：红外吸收光谱表明样品含片状和分散状分布的杂质氮，属1a型金刚石。利用同步辐射对晶体进行了形貌学研究．在近完整晶体内近中心的001)和(010）结晶学平面内观察到生长带，生长方向平行于(100）和(010)．在欠完整晶体内小角度晶界发育，取向角达2．5^*以上．晶体完整性与氮含量无明显相关关系．

简介：在冲击动态加载破坏下，金属材料会产生微孔洞、微裂纹和位错等微结构缺陷，这会明显影响材料的某些性能。采用中子小角散射技术研究了冲击加载前后合金材料微缺陷的变化。实验样品分别是以Al和Mg为基体、含有少量其他元素的两种圆柱状合金材料，将样品用不同速度的钢弹冲击，测量样品为加载前、后合金材料共计4个。

简介：利用同步辐射X射线形貌术研究晶体缺陷．是近年来发展起来的一种优良的实验方法．本文在研究LNP等晶体缺陷的同时，对这种实验方法进行了系统的探讨，讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗答问题．以及在缺陷研究中对晶体衍射的劳厄斑点的选取依据．

简介：文章采用日本产的ＣＮ１５１１８及扫描型双晶形貌测角仪直接拍摄了ＭＢＥ生长的Ｇａｌ－ｘＡＬｘＡｓ／ＧａＡｓ外延层和衬底层的形貌像，观察到面层中存在失配位错，单方向位错线晶面取向差等缺陷。并比较了生长温度对外延层质量的影响。

简介：研制成功的6MeV高能工业CT集成检测系统采用磁控管驱动的6MeV射频加速器作为X射线源，成像系统与9MeV高能工业CT相同，扫描方式采用三维锥束扫描。主要技术指标与9MeV工业CT系统接近，其空间分辨率也达到21p／mm（10％的调制度下）。