学科分类
/ 1
2 个结果
  • 简介:通过基于第一性原理的CASTEP计算发现,KDP晶体中Si代P点缺陷的形成能约是12.18eV,比较难在晶体中形成。模拟了此种点缺陷形成前后晶体的电子结构和能态密度,发现Si替代P后,晶体带隙宽度几乎没有变化,说明这种点缺陷不会引起晶体对光的额外吸收。Si替代P点缺陷仅使其周围的晶格及电子结构发生轻微畸变,对晶体整体结构影响不大。

  • 标签: KDP晶体 SI 光吸收 光学质量
  • 简介:工艺补充面和压面的设计是否合理,是保证覆盖件成形质量的关键。本文介绍了压面的常用形式,分析了工艺补充面的设计思路及过程,在DYNAFORM软件平台下对汽车覆盖件实例进行工艺补充部分设计。

  • 标签: 汽车覆盖件 DYNAFORM软件 压料面 工艺补充面