简介：摘要：现阶段，在电子信息技术时代，为实现新技术革命目标，电器、仪器仪表等行业对于社会发展具有重要意义。而电子元器件作为其广泛应用的产品，受外部环境因素影响较大，同时，由于受力形式的不同，会产生多种失效原因，造成企业经济损失。对此，本文针对X射线三维CT技术在元器件失效分析中运用展开分析，结合时效影响因素，加强对其内部结构的探索，在有效增加使用寿命的同时，提高对电子元器件整体保护水平。
X射线三维CT技术在元器件失效分析中运用研究
