介绍了应用高频红外碳硫仪测定碳化硅中的S含量。探讨了锡粒、纯铁、钨粒作为助熔剂的用量。并以生产用碳化硅经定值作为校准样品校正仪器，本方法的相对标准偏差RSD〈1％（n=6）。
福建分析测试
2008年4期
