薄膜厚度的测量是薄膜科学的重要分支之一,本文讨论用迈克尔逊干涉仪观察白光等厚彩色干涉条纹方法,从而确定薄膜的厚度和折射率,该方法的优点是测量精度高,原理简单,在一次测量过程中可同时确定薄膜的厚度和折射率。
大学物理实验
1994年1期