首页 > 《中国科技信息》 > 2022年15期 > 功率MOSFET器件稳态热阻测试原理及影响因素

功率MOSFET器件稳态热阻测试原理及影响因素

在线阅读下载PDF 导出详情

摘要摘要：热阻值是评判功率MOSFET器件热性能优劣的重要参数，因此热阻测试至关重要。通过对红外线扫描、液晶示温法、标准电学法3种热阻测试方法比较其优缺点，总结出标准电学法测试比较适合MOSFET热阻测试。在此基础上依据热阻测试系统Phase11，阐述功率MOSFET热阻测试原理，并着重通过实例对标准电学法测试热阻的影响因素测试电流Im、校准系数K、参考结温Tj以及测试夹具进行了具体分析，总结出减少热阻测试误差的方法，为热阻的精确测试以及器件测试标准的制定提供依据。

DOI g4q69gwoj8/6589296

作者申家骏王莉

机构地区大连东软信息学院

出处《中国科技信息》 2022年15期

关键词热阻测试原理测试电流校准系数参考结温测试夹具

分类 [][]

出版日期 2022年11月16日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）