磨削工艺对晶片表面层损伤深度的影响

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摘要 摘要磨削工艺直接影响着磨削后晶片的表面质量、几何参数等指标,本文分析了磨削工艺中砂轮粒径、砂轮进给率、砂轮转速及工作台转速对硅片表面层损伤深度的影响,通过抛光后硅片的氧化层错分析,优化了磨削技术。
出处 《电力设备》 2017年29期
出版日期 2017年12月22日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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