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用迈克尔逊干涉仪测量单层薄膜的厚度和折射率

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摘要薄膜厚度的测量是薄膜科学的重要分支之一，本文讨论用迈克尔逊干涉仪观察白光等厚彩色干涉条纹方法，从而确定薄膜的厚度和折射率，该方法的优点是测量精度高，原理简单，在一次测量过程中可同时确定薄膜的厚度和折射率。

DOI l34ggveo49/168879

作者沈朝晖;王晶;马延钧

机构地区不详

出处《大学物理实验》 1994年1期

关键词迈克尔逊干涉仪光程薄膜厚度折射率等厚干涉反射率

分类 [理学][物理]

出版日期 1994年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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大学物理实验

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