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光学超分辨成像精度破极限达4.1nm

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摘要中国科大郭光灿院士领导的中科院量子信息重点实验室孙方稳研究组,利用光学超分辨成像技术实现了对单个自旋态的纳米量级空间分辨率测量和操控,其成像精度达到4.1nm。了解微纳尺度物体的物理属性及动力学过程,需要纳米尺寸的探测器,纳米尺度的固态量子测量技术因此得到快速发展。

DOI ojn23w5ljr/1476985

作者

机构地区不详

出处《中国光学》 2015年1期

关键词成像精度超分辨高空间分辨率量子信息自旋态物理量测量

分类 [理学][物理]

出版日期 2015年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

中国光学

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