简介:PEC-A2样品表面处理装置是岛津公司为EPM-8l0Q电子探针样品表面进行喷金处理装置,其主要包括抽真空系统和喷金电流控制系统,抽真空系统由机械泵和油扩散组成,真空度可达到6.7×103Patorr.
简介:相位测量偏折术(PMD)是一种结合光线反射原理和条纹相位编码的光学面形检测方法,具有设备简单、成本低廉、稳定抗干扰等优点。但传统的偏折术需要对透明元件后表面进行黑化或粗糙化处理,以避免后表面反射对条纹相位提取的干扰,过程中可能损伤光学表面。分析了PMD面形检测方法用于透明元件检测的数学模型,提出了一种基于多频条纹反射和谱估计算法的新型PMD——多频条纹偏折术,分离了透明元件前后表面反射信号。从数字信号分析角度描述了谱估计方法分离精度的影响因素,并给出了分离结果优化的具体方案。进行了数值模拟和实验验证,取得了与基于相移的传统PMD非常接近的检测结果,证明了多频条纹偏折术的正确性和可行性。实验结果表明,该技术具有精度高、无需改变现有实验装置和待测元件的优点,为透明元件的无损静态检测提供了可靠的方法。
简介:该文阐述了液压阀块设计的基本原则与难点,着重叙述了应用Pro/Engineer配合件设计在液压阀块设计中的应用。在阀块的设计中,运用该方法,优化了阀块设计,减小了阀块的体积。
简介:采用高温固相法合成了YAG:Ce3+黄色荧光粉,基于Stober法的包覆技术对YAG:Ce3+进行了SiO_2包覆实验,研究了表面包覆对荧光粉发光特性的影响;并系统探讨了YAG:Ce3+@SiO_2荧光粉的耐高温高湿性能.研究表明,通过改进包覆工艺实现了形貌均匀的YAG:Ce3+@SiO2核-壳荧光粉;当包覆粒径在100nm左右时,粉体表面缺陷改善,发光强度相对于YAG:Ce3+荧光粉提高了34%;设计并实现了高温高湿实验,在相同实验条件下与YAG:Ce3+荧光粉对比,YAG:Ce3+@SiO2荧光粉在180℃时的发光强度衰减减小了4%,同时在180℃对应的湿度条件下,发光光谱强度衰减减小了8%.这表明,表面改性技术有效地改善了荧光粉的热稳定性和耐湿性,将有效促进蓝光芯片激发黄光荧光粉的白光LED在室外大功率照明中的应用.
简介:采用人工溅射的方式分别在熔石英基片上镀制了光学厚度相近的铜膜和铁膜污染物。研究了熔石英基底在355nm波长的激光损伤阈值。分别采用透射式光热透镜技术、椭偏仪、原子力显微镜和光学显微镜研究了两类薄膜的热吸收、膜层厚度、表面微观形貌以及激光辐照后薄膜的损伤形貌。实验结果表明:熔石英表面的金属膜状污染物均导致基片损伤阈值下降,位于前表面的污染物引起的损伤阈值下降更为严重,约为23%。两种污染物薄膜引起基底的损伤形貌、基底损伤阈值的下降幅度与薄膜的热吸收系数与微观结构有关。从热力学响应角度,结合损伤形貌对污染物诱导熔石英表面形貌的损伤机理进行了讨论。