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327 个结果
  • 简介:通过软件实现了用PC机调用日本Rigaku公司生产的D/max一类X射线衍射仪测量数据,利用PC机的复杂计算功能,使原有仪器也可以进行新的结构分析工作,扩展了仪器的功能。

  • 标签: X射线结构分析 软件 数据处理
  • 简介:使用x射线衍射法,通过石棉的2口特征峰进行判断,分析滑石粉中可能存在的石棉成分。结果表明,样品中不含温石棉、铁石棉和青石棉,并对温石棉和绿泥石进行了有效区分。方法快速,灵敏,可有效用于滑石粉中石棉的测定。

  • 标签: 滑石粉 石棉 X射线衍射法
  • 简介:采用X射线衍射技术(XRD)对白云石原矿和不同温度煅烧的白云石原矿进行了物相分析,白云石原矿中主相为CaMg(CO3)2,相对含量约为98.6%,杂质相为SiO2,相对含量约为1.4%。白云石原矿经过300和500℃,煅烧2h未见主相CaMg(CO3)2分解,在750℃煅烧2h,主相CaMg(CO3)2部分分解为碳酸钙和氧化镁,在1000℃煅烧2hCaMg(CO3)2全部分解为氧化镁和氧化钙。

  • 标签: X射线衍射法 煅烧白云石 物相组成
  • 简介:首次研究进口可利用含铜物料与进口铜矿属性的不同特性并建立了鉴定方法,采用X射线荧光光谱法和X射线衍射光谱法联用技术建立铜矿和含铜物料属性的鉴别方法。通过X射线荧光光谱法对铜矿和含铜物料中元素进行定性半定量分析,再用X射线衍射光谱法对铜矿和含铜物料的特征谱峰进行扫描,与X射线衍射仪中标准卡片比对分析,能够确定铜矿和含铜物料的物相组成。结果显示,X射线荧光光谱法测定的铜矿和含铜物料的共同特点是铜的含量较高,达到冶炼铜对原料的要求;硅、铁、钠、钙和镁元素都能够检出;差异性在铅和锌元素在含铜物料中较高,在铜矿石中基本未检出;用X射线荧光光谱法检测出的金属元素,通过X射线衍射仪扫描后与标准图片比对,各元素以不同的形式存在于含铜物料中,且有规律可循。

  • 标签: 铜矿 含铜物料 X射线荧光光谱法 X射线衍射光谱法 鉴定
  • 简介:关于X光折射率小于1的讨论=AdiscussionontherefractiveindexofX—raylessthan1[刊,中]/谭业武(滨州师范专科学校物理系)∥大学物理.—1994.13(11).—22—23,21从几个不同的方面讨论了X光的折射率,并通过

  • 标签: 光折射率 大学物理 师范专科学校 物理系 滨州 射线
  • 简介:O434.2//TN232001021486紫外线技术在军事上的应用研究=Studyofapplicationofultravioletteehnolgoytomilitaryaffairs[刊,中]/张忠廉,刘榴娣(北京理工大学光电工程系.北京(100081))//光学技术.-2000,26(4).-289-293,296介绍了紫外线在军事上的应用和紫外波段光电探测器件的发展情况以及国内外紫外技术在军事上应用概况,提出了在军事应用方面如何对紫外线技术作进一步研究的建议。(李瑞琴)

  • 标签: 紫外线技术 发展情况 光学技术 光电工程 光电探测器件 应用研究
  • 简介:应用于高能闪光X光照相技术的X射线源主要是强流电子束与重金属靶相互作用产生的韧致辐射,一般应用电子直线感应加速器(LIA)产生强流电子束,电子束被聚焦到一个很小的焦斑后打靶。进行闪光照相时,X射线斑点大小是一关键参量,直接影响成像的分辨能力。由于高能X射线的强穿透能力和强辐射环境,传统的小孔成像法难以应用。

  • 标签: X射线源 斑点 强流电子束 直线感应加速器 高能X射线 测量
  • 简介:小角X射线散射(SAXS)是研究多孔材料结构的一种有效方法.可得到孔径分布、平均孔径、比表面、界面层厚度、分形维数等许多微结构信息.SAXS理论公式基于点状光源(针孔准直),但实践中则大多采用长狭缝准直条件.简要综述了SAXS在长狭缝准直条件下直接应用模糊强度进行煤、炭、二凝胶、分子筛等多孔材料结构解析的方法、并与针孔准直进行了对比。

  • 标签: 小角X射线散射 多孔材料 模糊数据 结构分析 解析方法 SAXS
  • 简介:薄壁曲面铅合金铸件(简称铅铸件)采用砂模或金属模铸造,经机械加工成壁厚约3-4mm的变壁厚曲面回转体,要求精加工后内部不得有大于φ0.4mm以上的渣孔类缺陷。

  • 标签: 合金铸件 射线检测技术 曲面 薄壁 金属模铸造
  • 简介:立足实用化脉冲星导航技术需要,梳理了现有脉冲星导航探测方法及研究进展,结合探测器运行空间环境,分析了探测器指标,比较了现有天基x射线探测方法、载荷特点以及各探测技术存在的不足,并对空间辐射环境去噪方法进行了评述,对后续脉冲星导航探测方法构建及装置研制提出了几点建议。

  • 标签: 脉冲星导航 X射线探测 大灵敏面 空间背景辐射 粒子甄别
  • 简介:O434.122006065468强脉冲软X光辐照薄塑料闪烁体发光特性研究=LinearluminescenceforthinplasticscintillatorsunderintensesoftX-rayirradiation[刊,中]/宁家敏(中物院核物理与化学研究所.四川,绵阳(621900)),蒋世伦…//强激光与粒子束.—2006,18(7).—1215-1218介绍了Z-pinch实验用软X光功率仪的测量原理,利用“强光一号”产生的强脉冲软X光对薄塑料闪烁体((?)40min×0.1mm)进行了辐照。实验中,采用两套软X光功率仪并安装在同一个大法兰面上.其中一套作为标准系统,参数保持不变,另一套系统的狭缝宽度逐渐增加,以改

  • 标签: 射线 强脉冲 塑料闪烁体 玻璃毛细管 强激光 光辐照
  • 简介:在北京同步辐射装置上应用同步辐射X射线小角散射技术研究TATB样品微孔状况,分析了微孔结构参数的变化。采用不同制备工艺(机械研磨、化学合成、气流细化、全结晶、粉碎)和不同存放时间的TATB粉末样品共计7份。

  • 标签: TATB钝感炸药 小角X射线散射 结构参数 制备工艺 逐步回归法
  • 简介:介绍了辐射模拟加速器辐射场中脉冲X射线能谱的几种常用测量方法,阐述了基本原理、测量装置的典型系统组成、主要参数特性、技术发展状况和研究进展,描述了各种方法的优缺点和适用范围。以吸收法为例,综述了解谱技术的发展状况,并描述了多种解谱方法的特点。最后,重点介绍了西北核技术研究所脉冲X射线能谱测量的进展,并对测量系统抗噪和散射控制技术进行了评述。结合现有条件和技术成熟度,对今后工作的发展方向进行了展望。

  • 标签: 脉冲X射线 能谱 吸收法 解谱方法
  • 简介:文章介绍了用光学信息论的熵方法,在固定条件下,通过定量计算同一被摄物,在散乱射线不同的情况下,射线照相底片的信息量。而有效地评价散乱射线对底片象质影响。

  • 标签: 信息熵 X射线
  • 简介:溶胶界西层厚应通常是用Porod法对高角区负偏离的队Porod曲线进行拟合求算,但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均阗径之差而获得平均界面厚度。应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度。

  • 标签: 小角X射线散射法 溶胶 测定 平均界面厚度
  • 简介:为了分析电流型CdZnTe(CZT)探测器的脉冲线性,利用CZT探测器测量得到了脉冲宽度为50ns的脉冲X射线响应曲线,采用波形时间积分法分析了其线性特性。结果表明,以波形时间积分为测量目标量,当X射线照射量在0.160-0.826mR范围时,在10%的不确定度范围内,样品探测器可作为线性测量系统的探测器件;以幅值为测量目标量,工作电压为400V时,在5%的不确定度范围内,样品探测器可作为线性测量系统的探测器件。

  • 标签: CDZNTE 脉冲X射线 波形时间积分 线性特性 幅值特性
  • 简介:射流是自然界中的一种普遍现象。在惯性约束聚变(ICF)、天体物理的研究中,射流也是其中重要的过程,对射流的研究是相关领域中的重要研究内容之一。在实验室,利用高功率激光模拟相应的射流过程,并进行实验诊断,获得的结果对ICF的理论研究以及校验相关程序,具有重要价值。

  • 标签: 等离子体射流 激光诊断 X射线 惯性约束聚变 高功率激光 天体物理
  • 简介:利用双晶单色器和精密二圆衍射仪,在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术,并用这一实验技术结合X射线衍射方法,研究了Si晶体中外延生长的起薄Ge原于层的微结构。实验结果表明,由于Ge原予的偏析,在Si晶体样品中形成了共格生长的GexSi1-x合金层,浓度平均值为x≈0.13;650℃退大会使Ge原予向表面扩散,Si晶体中的合金层消失,在晶体表面形成接近纯Ge的单原于层。

  • 标签: X射线驻波方法 半导体 超薄异质外延层 硅晶体 外延生长 Ge
  • 简介:介绍了X射线CT系统和有关物理基础,综述了理想假设下的CT成像的连续数学模型和离散数学模型,以及相应的图像反演公式(重建算法),并对其基本思想及优缺点进行了分析。最后,分类阐述了实际X射线CT系统研制和应用需要研究的若干问题。

  • 标签: 计算机断层成像 数学模型 RADON变换 投影变换 图像重建算法