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共 5 个结果

测量电路中的共地干扰问题

作者：钱柏年
学科：电子电信 > 微电子学与固体电子学
创建时间：2017-03-13
出处：《中国集成电路》 2017年第3期

简介：结合产品开发中的实际案例，分析了测试测量电路中的共地干扰的常见现象，产生原因，以及在电路设计和PCB布线中如何避免和解决此类问题的一些思路。为此类问题的研究，尤其是实际的产品开发，提供一些借鉴。
标签：共地干扰

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印制电路板的电磁干扰抑制研究

简介：文章主要介绍了PCB上的电磁辐射，从最初的马克斯威尔电磁理论出发，建立辐射源电磁场模型，分析主要的电磁耦合途径。并就PCB上的关键电磁干扰问题建模分析，并基于磁通量最小化原则下给出了相应的解决措施。
标签：电磁干扰磁通量最小化射频

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三星电子部门重组进军智能汽车技术领域

作者：
学科：电子电信 > 微电子学与固体电子学
创建时间：2016-01-11
出处：《印制电路资讯》 2016年第1期

简介：2015年12月9日，韩国三星电子进行了部门重组，并宣布将新设“电装事业组”，进军智能汽车技术领域。随着苹果、谷歌和亚马逊等全球知名IT电子企业纷纷投身于新一代汽车领域，三星电子也对外表示将正式进军智能汽车电装配件领域，这引发了外界极度的关注。
标签：汽车技术三星电子智能汽车重组电子企业亚马逊

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一种逻辑卡的干扰数据破坏问题以及解决方案

作者：杨利华
学科：电子电信 > 微电子学与固体电子学
创建时间：2019-03-13
出处：《中国集成电路》 2019年第3期

简介：虽然逻辑卡和CPU卡有很大不同,其逻辑相对简单,但一样运行相似的固定逻辑。在逻辑卡的运行中,同样存在干扰问题,从而产生数据破坏。本文介绍一种逻辑卡的数据破坏案例和解决方案。
标签：逻辑卡慢上电数据变化写权限控制

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OmniViSion推出全球首款1／3英寸的8百万画素传感器

作者：
学科：电子电信 > 微电子学与固体电子学
创建时间：2008-10-20
出处：《中国集成电路》 2008年第10期

简介：OmniVision日前推出全球第一款113英寸8百万画素CMOS影像传感器。全新的OV8810是该公司第一款使用最新推出的1．4微米0mniBSI^TM背面照度技术所研发的CameraChip产品。1／3英寸的OV8810体积小到足以纳入8．5×8．5×7mm的相机模块当中，并且可以用每秒10个讯框（fps）的速度以最高的8百万画素分辨率输出数据。
标签： CMOS影像传感器输出数据体积小分辨率模块

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