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半导体微盘腔激光器的腔模结构分析

简介：应用光流线量子力学理论，分析了微盘激光器的腔模结构，为半导体微盘谐振腔的＂回廊耳语模＂~［７］（ＷｈｉｓｐｅｒＧａｌｌｅｒｙＭｏｄｅ）现象做出了理论解释，并对不同尺寸的微盘可能存在的模式做出了理论计算，为微腔激光器的设计。制作及输出光模式的预测提供了理论依据。
标签：谐振腔光场流线结构微腔激光器光传输模式

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电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定铋系超导材料中合金组分含量

作者：禄妮;李波
学科：理学 > 化学
创建时间：2012-02-12
出处：《中国无机分析化学》 2012年第2期

简介：提出了用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定铋系超导材料合金元素含量的方法。通过实验确定试样溶样方法，最终采用硝酸＋盐酸溶解样品；选择Bi223．061（151）；Pb216．999（155）；Sr346．446（97）；Ca315．887（106）；Cu224．700（149）作为元素分析谱线；确定最佳的仪器工作参数。方法回收率为99．0％-102．0％，RSD小于1．0％，具有良好的准确度和精密度，能满足日常超导材料中合金组分的分析。
标签：铋系超导材料铋铅锶钙铜

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膜去溶进样高分辨电感耦合等离子体质谱法测定半导体级氢氟酸中杂质元素

作者：陈黎明
学科：理学 > 化学
创建时间：2012-02-12
出处：《中国无机分析化学》 2012年第2期

简介：利用高分辨电感耦合等离子体质谱法测定半导体级高纯氢氟酸中的痕量金属杂质，用膜去溶进样系统直接进样检测，无需前处理、快速，避免了在样品前处理时的污染问题。高分辨电感耦合等离子体质谱法可以消除多分子离子干扰，降低检出限，提高定量准确性。方法的检出限为0．09-37．07μg／L，加标回收率为92．3％-116．8％。方法简单，结果可靠，适用于高纯氢氟酸中痕量元素的快速测定。
标签：膜去溶半导体级氢氟酸高分辨电感耦合等离子体质谱杂质元素

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