学科分类
/ 1
1 个结果
  • 简介:介绍了半导体测试中的良率数据记录格式。阐述了标准测试数据格式(STDF)的优点以及结构。给出了将STDF用于半导体测试过程中,以减少花费、增加效率、缩短良率提升时间测试数据标准化的新思路。

  • 标签: 测试 STDF FAR 良率