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  • 简介:TQ171.652005032360利用计算机辅助装调检测矩形大口径离轴非球面的方法研究=Studyontestingmethodsoflarge-aperturerectangleoff-axisasphericalsurfacewithcomputeraidedalignment[刊,中]/杨晓飞(中科院长春光机所.吉林,长春(130022)),韩昌元∥光学技术.-2004,30(5).-532-534通过非球面的零位补偿法,完成了对矩形大口径离轴非球面镜的检测。先用光学设计软件Zemax从理论上分

  • 标签: 工艺与设备 光学加工 离轴非球面 加工技术 精度要求 调整量
  • 简介:高功率固体激光装置对KDP晶体光学元件的基本要求是大口径、高精度面形质量、高激光损伤阈值、良好的表面粗糙度。但是KDP晶体本身具有质软、易潮解、脆性高、对温度变化敏感、易开裂等一系列不利于光学加工的特点,传统的研磨抛光法不适于加工高精度的大口径KDP元件。国外加工此类元件已广泛采用先进的单点金刚石车削技术(简称SPDT)。采用SPDT技术加工KDP晶体元件,主要存在3个方面的加工误差,即晶体的面形误差、表面粗糙度(包括表面疵病)以及小尺度波纹等。

  • 标签: KDP晶体 加工工艺 高功率固体激光装置 表面粗糙度 激光损伤阈值 光学元件
  • 简介:目前数控车削回转曲面的加工及检测需要由三坐标测量机多次检测来实现,而一般机械加工车间的数控车削设备与三坐标测量机常常是多对一的配置关系,易造成待检产品在三坐标测量机处积压,消耗过多无效时间,影响产品的制作周期。另外,产品检测需从机床上卸下,检测后需重新找正装夹,这样即延长了加工的辅助时间,又增加了误差的可能性。针对此现状本项研究的目的是将三坐标的检测原理应用到数控车床上,利用机床自身的坐标系统进行数据采样,在加工误差于允许的范围内,在不进行重复装夹的前提下完成数控车削回转曲面的现场检测。具体方案为接触式检测法,该方法采用不带压力或位移传感器的机械式球形测头进行数据采用,测头表面与工件表面的接触状况用弱电流电路通过发光二极管显示,

  • 标签: 数控车削 回转曲面 检测工艺 发光二极管 参数设计
  • 简介:激光焊接是利用激光熔化母材本身金属来填充焊缝,因此激光焊缝表面没有余高,并有少许凹陷,由于构件结构的特殊性,有关技术要求焊缝的焊接深度仅为16mm,焊缝宽度不得大于6mm,而实际上焊缝区域的母材厚度约为6-12.5mm变化,焊缝尺寸相对于母材厚度很小,造成焊缝在底片上形成的影像不明显。简体内部密封并以其他材料填充,在进行射线检测时射线不可能采取双壁单影法透照对焊缝实施检测,只能采用单壁单影的透照方法。另外,靠近简体内侧加工有工艺弧度,在射线透射方向上母材厚度有很大变化,

  • 标签: 激光焊接 焊缝射线检测 母材厚度 单壁单影
  • 简介:为了在虚拟的环境中进行产品的装配工艺规划,必须建立一个虚拟装配系统,这就涉及到虚拟装配的建模问题。虚拟装配系统的建模应当包括从模型的数据源——CAD系统提取数据以及数据在虚拟装配(VR)系统中的组织两个方面的问题。下面分别从CAD与VR系统模型的异同、信息转换、虚拟装配系统的模型描述、装配特征等几个方面来描述。

  • 标签: 装配工艺设计 VR 虚拟装配系统 CAD系统 装配工艺规划 系统模型
  • 简介:小工具数控抛光技术已成为ICF大口径光学元件制造的主工艺技术,由于这种工艺技术使用了比被加工元件外形尺寸小得多的抛光磨头来进行加工,所以被加工表面将呈现出不同于传统方法加工表面的特征。与传统抛光技术相比,被加工表面的某些频率成分可能增加,可能会对光学系统带来不良的影响。

  • 标签: 数控加工工艺 大口径光学元件 调制度 抛光技术 加工表面 传统方法
  • 简介:聚叠氮缩水甘油醚(GAP)是一种侧链含有含能叠氮基团,主链为聚醚结构的含能预聚体,该预聚体具有正的生成热,因而能量水平高。GAP在火箭固体推进剂中的应用较多,与端羟基聚丁二烯(HTPB)黏合剂系统比较,GAP是一种高能量(5023.2J/g)、高密度(LLHTPB高40%以上)的聚合物。

  • 标签: GAP 固化工艺 聚叠氮缩水甘油醚 端羟基聚丁二烯 改性 固体推进剂
  • 简介:Ⅱ型终端组件由窗口、晶体、透镜、过渡段4个模块组成,直接与靶室相连,是整个原型装置非常重要的组成部分,它的装校精度直接影响原型装置三倍频输出能力。Ⅱ型终端组件最终装校精度主要取决于透镜的精密定轴和晶体最佳匹配角的离线精确测量。目前,重新开展对终端组件精密装校工艺研究和流程设计,目的是改进原有装校方式,降低晶体装配中的应力,同时根据今年试验的需要制定符合两种不同取样方式的精密装校工艺流程。

  • 标签: 工艺流程 装校 组件 终端 Ⅱ型 原型装置
  • 简介:TN305.72005032365硅基微结构制作及其在微分析芯片上的应用=Fabricationofsilicon-basedmicrostructuresandtheirapplicationinmi-crochipsE刊,中]/孙洋(清华大学深圳研究生院.广东,深圳(518057)),钱可元…∥半导体光电.-2004,25(6).-477-479,483基于一种新的湿法刻蚀条件和新型的凸角补偿结构,以KOH溶液为腐蚀液,对单晶(100)Si材料进行了湿法刻

  • 标签: 衍射光场 飞秒激光 光刻胶 激光微细加工 光学工艺 抛光液
  • 简介:低压化学气相淀积(LPCVD)设备主要为微电子机械系统(MEMS)在硅基片上淀积Si3N4、Poly-Si(多晶硅)、SiO2薄膜。承担形成微传感器和微执行器的抗蚀层、结构层和牺牲层的加工任务。是MEMS技术中的主要生产工序之一,也可以用于集成电路钝化膜制备。

  • 标签: 低压化学气相淀积 微电子机械系统 硅基片 二氧化硅薄膜
  • 简介:材质为2A14铝合金深孔杯形毛坯件,由于壁薄,材料热变形温度范围窄,合金流变困难,若采用常规锻造的反挤压成形方法,势必造成杯体内、外壁变形不均,温度下降过快,变形抗力大,成形难度较大。等温成形工艺是零件毛坯精化和优化的一个重要途径,但对设备和模具的要求较高,成本高。因此运用有限元数值模拟结合试验对铝合金杯形件挤压成形工艺进行可行性研究,以减少研究试验成本。

  • 标签: 成形工艺 等温挤压 铝合金 杯形件 有限元数值模拟 试验成本
  • 简介:分析了等效中子注量在线测量系统研制的要素,确定了探测器制作、连接、退火、数据采集等关键工艺,研制了等效中子注量在线测量系统,实现了探测器的小型化以及多路测量。经实验验证,该系统的中子注量测量结果与用活化箔法测量的结果吻合。

  • 标签: 等效中子注量 探测器 双极晶体管
  • 简介:运用等离子喷涂技术制备多层屏蔽复合涂层,根据钽、钨、锡材料的物理特性及工艺特点,分别设计了自动喷涂工艺,既保证了涂层的性能,又提高了喷涂工艺的重复性;在喷涂区域使用氩气保护装置制造局部隋性气氛,简便有效地控制了涂层材料在高温等离子体喷射过程中的氧化:综合使用温度测试、力学拉伸、金相组织及化学成分等分析方法,综合考虑优化喷涂功率、喷涂距离等喷涂参数对基体温度、涂层中氧化物含量、涂层密度的影响,优化喷涂工艺参数,制备出厚度均匀、绢织致密的Ta/W/Sn复合涂层。

  • 标签: 等离子体喷射 复合涂层材料 LYL2铝合金
  • 简介:大型激光装置的聚焦光斑的光强均匀性、能量利用率和旁瓣等都有非常苛刻的要求:能量利用率需大于90%;不均匀性小于5%而且要求激光束旁瓣非常小。就当今光学技术水平而言,由于光学元件的制作精度、材料的非均匀性以及高功率激光的非线性效应等共同影响,使得激光装置输出的激光束无法满足要求。

  • 标签: 制作工艺 理论设计 相位板 大型激光装置 能量利用率 光强均匀性
  • 简介:膜分离技术具有能耗低、单级分离效率高、工艺简单、不污染环境等突出优点,在处理铀污染废水中应用前景广阔。作者曾采用混凝沉淀并结合中空纤维膜微滤(如.22μm)一体化工艺(CMF)处理含镅废水:研究了体系pH值、硫酸亚铁加入量等工艺参数的影响,并确定了最优参数;经该工艺处理后的废水中^241Am浓度小于最大允许排放浓度(1Bq/L),去污率大999.9%,去污因子1309-47600,平均浓缩倍数为190,相当于现有的两级蒸发工艺水平,并投入了实际应用,处理含^241Am废水约60m^3。

  • 标签: 含铀废水 组合工艺 膜微滤 ^241AM 絮凝 排放浓度
  • 简介:利用FMECA(FailureMode、EffectsandCriticalityAnalysis)方法对电爆管在作用过程中的故障原因、后果及影响的严重程度进行了分析,划分了严酷度类别和发生概率等级,结果如表1所示。

  • 标签: 电爆管 CA方法 FME 应用 工艺 MODE