简介：摘要随着全球信息、电子等相关产业突飞猛进的发展，计算机从“贵族”走向“平民”，使得计算机在生产过程得到了广泛应用，实现了生产过程的自动化控制。通过我国普遍使用的RS-232和RS-485数据接口标准，将计算机和设备进行连接形成控制局域网络，进而实现生产过程的自动化控制。

简介：摘要在我国快速发展的过程中，我国的汽车行业发展迅速，电子技术也被应用其中，而且占有举足轻重的作用。因此，汽车售后的电路故障检修正在积极与市场发展需求相适应，汽车电路故障的测试分析也成为了一个紧俏的行业。笔者将汽车的电路故障检修作为主要的研究对象，对汽车的电路故障特点、测试要点以及检修方式等进行了分析，总结出具有灵活性和适用性的检修方法，全面节省了汽车电路检修的时间。

简介：CMOS制程是现今集成电路产品所采用的主流制程。闩锁效应（Latch—up）是指CMOS器件中寄生硅控整流器（SCR）被触发导通后，所引发的正反馈过电流现象。过电流的持续增加将使集成电路产品烧毁.闩锁效应已成为cMOS集成电路在实际应用中主要失效的原因之一。在国际上，EI～JEDEC协会在1997年也制订出了半静态的闩锁效应测量标准，但只作为草案，并没有正式作为标准公布，我们国家在这方面还没有一个统一的测量标准，大家都是在JEDEC标；住的指导下进行测量。文章针对目前国际上通行的闩锁效应测试方法作一个简要的介绍和研究。

简介：摘要：设计一款电路及其生产测试,需要投入大量的金钱和时间。随着制造工艺不断地提升,半导体产业的发展对照摩尔定律越来越难实现。如何快速低成本实现一款新的满足要求的电路,成为一个迫在眉睫的问题。

简介：摘要基于单位的生产现状和计划工作安排，到了生产测试瓶颈的时候，变频电路测试系统就极度紧缺，不能很好的完成生产测试工作。为了解决这个问题，本文主要介绍了在原有单一测试系统的基础上，通过创新设计，实现一套测试系统能测试多种变频电路产品。

简介：本文介绍了进行无功功率测试的方法。本文应用采集复合变量的新方法，也就是采集I＊sinφ的值来求得无功功率，从而简化了电路，降低了成本；与此同时，提高了速度，增强了可靠性。又因在补偿电路中采用了循环投切的设计，使各电容器组的工作概率均等，从而降低了设备损耗。

简介：摘要：测试系统电路发生故障后，依靠传统经验进行故障排查，耗时且难做到全面、一致。采用Simulink构建电路模型，进行仿真分析，结合实际验证，找出故障原因，进而提出改进方法，为后续构建测试系统模型、故障分析奠定基础。

简介：本文主要讨论用新方法测谐振频率和一般频率及误差的所在。

简介：该文详细地介绍了相位校准单元的电路和数学原理以及测试结果。在电路原理部分主要介绍相位校准单元的工作原理、各个关键点的波形以及用隧道二极管产生梳状谱的典型电路。数学原理主要阐述了测量梳状谱的数学依据。最后给出了该相位校准单元的测试要求和测试结果。

简介：为了更好地满足生产质量要求，严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上，文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高，功能更加强大，测试向量越来越大，测试时间也越来越长。为了降低测试成本，TeradyneJ750测试系统以测试速度快的特点，顺应测试行业的发展，在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例，对于一些数字电路关键测试技术在TeradyneJ750测试机上的调试做出了较详细的阐述。

简介：摘要：现代集成电路的集成度得到大幅提升，集成电路的测试难度也全面提升。为了进一步发展集成电路，本文对常见的集成电路测试方法进行梳理和分析，在合理利用不同集成电路测试方法，提升测试的效率与质量，从而提升集成电路设计、生产的效率，为我国集成电路行业的发展提供相关的参考建议。

简介：

简介：摘要随着我国电子科学技术的不断进步，我国汽车电器部件的数量也越来越多。同时，电器部件占车部件的比例也在不断提高。因此可以说，电气部件对于汽车性能而言，占据着十分重要的作用。因为电路线束问题导致汽车不能使用的现象不在少数，小则电路系统遭到损坏，大则引起汽车自燃失火。因此，在汽车设计中电路保护测试至关重要。本文从三个方面出发，分析汽车电路保护测试及整改，旨在更好的解决汽车电路引发的问题，以供其它学者参考。

简介：

简介：     摘要：当今，集成电路的电磁兼容性越来越受到重视，芯片电磁兼容(EMC)技术关乎整机电子系统及其周围电子器件的运行的安全可靠性，电磁兼容性。电子设备和系统的生产商努力改进他们的产品以满足电磁兼容规范，降低电磁发射和增强抗干扰能力, 集成电路（IC）的电磁兼容性（EMC）的测试方法正受到越来越多的关注,文章基于国内外资料调研和课题组的研究成果, 介绍了器件级(IC)EMC测试方面的发展现状，测试标准， 详细介绍了器件级(IC)主要的电磁兼容测试方法。

简介：摘要：集成电路芯片设计制造，是目前国内电子设备和通信技术领域的热门话题，市场需求旺盛。在集成电路测试中引入射频测试技术，有助于射频集成电路实现产品优质化和工艺自动化建设，！确保射频集成电路高效准确测试的同时，还能节约大量作业成本，因此得到普遍欢迎。本文概括论述射频测试技术，功能和发展前景，详细介绍这项技术的作用原理，对射频测试技术进行全面分析，力求为射频集成电路测试提供更加优质的技术应用，促进电子设备和通信技术行业实现更快发展。

简介：摘要：集成电路芯片设计制造，是目前国内电子设备和通信技术领域的热门话题，市场需求旺盛。在集成电路测试中引入射频测试技术，有助于射频集成电路实现产品优质化和工艺自动化建设，！确保射频集成电路高效准确测试的同时，还能节约大量作业成本，因此得到普遍欢迎。本文概括论述射频测试技术，功能和发展前景，详细介绍这项技术的作用原理，对射频测试技术进行全面分析，力求为射频集成电路测试提供更加优质的技术应用，促进电子设备和通信技术行业实现更快发展。

简介：摘要：集成电路测试，实则对集成电路或是整个模块作出测量，将输出回应对比我们的预期输出，从而判断元器件的性能优劣及其功能。目前，已成为检验设计、生产控制、分析失效的可靠手段。本文介绍了测试的基本原理、过程，阐述了成算法的具体性能，最后展望今后的发展走向。

简介：制造技术的不断发展使集成电路工业已达到深亚微米级,以TSV技术为基础的三维集成电路解决了器件间互连线长度过长的问题,成为一种具有众多优势极具竞争力的技术。综述基于TSV的三维集成电路测试的新特点,阐述以TSV技术为中心的三维IC的优势,介绍适用于三维IC的测试方法,分类阐述实现此种新技术所需要解决的难题。

简介：摘要随着现代电子信息技术的飞速发展，半导体集成电路技术的应用已经十分普遍。集成电路不仅是武器系统、航空航天设备的核心部件，而且广泛使用在计算机、网络通信、个人身份识别等各个领域。文章主要分析了集成电路测试技术的应用，以供参考。