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  • 简介:本文使用自制标准样品,采用混合熔剂熔融样品,用X射线荧光光谱法(XRF)测定锶永磁铁氧体半成品中Fe、Sr、Si等元素的含量。熔融制样有效地消除了矿物效应,并降低了基体效应的影响。实验结果表明,本法准确度高,重现性好,平行测定11次相对标准偏差(RSD)可达到0.1%。该方法用于实际样品分析,其结果与传统化学分析方法结果相符。

  • 标签: X射线荧光光谱法 永磁铁氧体