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57 个结果
  • 简介:1引言核电厂的安全和可用率是由合理设计的承担不同功能的各个系统(以及合适的运行程序和合格的运行人员)来保证的。构成系统的各个部件对核安全以及电力生产具有不同程度的重要性,对各种内部和外部事件也具有不同程度的敏感性。这就需要对核电厂的项进行分级。合理的项分级以及对不同级别项采用不同的设计、建造、检验和质保要求是实现核电厂设计意图和降低建造成本的重要保障。因而可以说,项分级是核电厂标准体系中具有普遍意义的关键课题。从标准化这一角度对项分级进行研究,对建立自洽的核电厂

  • 标签: 核电厂 安全级 安全分级 电气设备 质保要求 国际原子能机构
  • 简介:文章介绍了新建液闪绝对测量装置。该装置应用TDCR原理,对纯β放射性核素活度进行绝对测量。对装置电子学线路进行详细说明,描述了多路符合插件的原理,简要介绍了探测器结构。应用该装置对3H活度进行测量测量结果的不确定度达到0.6%(k=1),三种统计模型的计算结果与放射源标称值均在0.9%以内符合,实现了系统在绝对测量中的应用。

  • 标签: 液闪 TDCR 活度 不确定度
  • 简介:文章通过描述美国核电行业开展商品级项转化(CGD)的方法、美国核管会对商品级项转化的态度,以及转化工作过程中发现的问题,讨论我国开展商品级项转化工作的必要性和需要注意的问题.

  • 标签: 商品级物项 商品级物项转化
  • 简介:用不同束斑的SRXRF微不,对1个土壤成分分析标准物质和1个岩石成分分析标准物质进行了多点测量,通过样品缓慢移动,在2个土壤成分分析标准物质和2个岩名成分分析标准物质上分别选取2—3个高度为5mm的小区,进行扫描测量。结果表明,不论SRXRF微束束斑大小,标准参考的均匀性都不是很好;在目前没有微束分析用的标准参考的情况下,采用多区域扫描测量的方法,现有的标准参考作质量控制是可行的。

  • 标签: 标淮参考物 均匀性 SRXRF 同步辐射x射线荧光微束 x-射线荧光分祈
  • 简介:在放射性测量中,在某个时间内对样品进行测量得到的计数值可以看成是一个随机变数。即使所有的测量条件都是稳定的,若多次记录在相同时间,内所测到的计数并不完全相同,而总是围绕着其平均值上下涨落。从理论上说,我们希望知道各个测量值所围绕着涨落的那个平均值,这个值应是无限次测量取值的平均值,即称为数学期望(真平均值)。而在实际测量中,我们只能进行有限次测量。一次测量值或有限次的平均值都不是真平均值。它们只能在某种程度上作真平均值的近似值,这样就给结果带来了误差,这是由放射性核衰变的统计性引起的,所以称为统计误差。

  • 标签: 放射性测量 标准偏差 变异系数 统计误差 置信区间 真平均值
  • 简介:探测系统的死时间,就是能够将两个事件(或脉冲)区分开的最小时间间隔。系统的死时间主要由探测器及与其配套的电子测量系统决定。本文介绍了利用双源法和振荡仪法分别测定FP-180标准装置的系统死时间,比较了这两种方法的优缺点并简单介绍了其他测定死时间的方法。

  • 标签: 死时间 双源法 振荡仪法
  • 简介:核设施放射性流出数据是核安全监管和应急管理的重要依据之一。XML技术是实现统一流出数据交换规范的有效工具,有利于数据的汇总、统计和分析,强化对流出监管的时效性。本文首先介绍了XML概念、流出数据建模方法的选择,然后着重介绍了流出模型建立的过程,最后展示了建立的模型以及应用情况。

  • 标签: 核设施 流出物 数据建模 XML
  • 简介:采用XAFS研究了不同方法制备的钛硅复合氧化材料的钛K边结构,其结果表明,二氧化钛与二氧化硅复合后,钛原子配位数由原来的六配位降低到3—4配位,不同二氧化钛含量样品的径向结构函数及近边曲线都有不同,说明经过复合后二氧化钛结构发生改变,并且二氧化钛含量对复合材料的结构影响很大。

  • 标签: 钛硅复合氧化物材料 XAFS 二氧化钛 径向分布函数 近边曲线 X射线
  • 简介:用微米束同步辐射X射线荧光法(μ-SRXRF)对国际原子能机构(IAEA)研制的可用于核技术微量分析的两种固体微量生物标准参考地衣IAEA-338和海藻IAEA-413样品中的各种微量元素进行了检测,并对这种标准参考的均匀性进行了检验。结果表明:这两种微量固体生物标准参考的均匀度达到了预定指标。

  • 标签: SRXRF 同步辐射X射线荧光法 微量生物标准参考物 均匀性检验 核技术 微量分析
  • 简介:在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X-射线在样品表面激发出的电子产额随X-射线能量的变化,提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明,在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单,可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立,有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。

  • 标签: 测量 XAFS谱 全电子产额技术 同步辐射 X-射线吸收精细结构 磁控溅射
  • 简介:详细介绍了软X射线绝对光强测量系统的设计和结构及其标定的情况和结果。测量系统包括电离室、监测(或待标定)探测器及其传动系统两部分,可作为50-2000eV软X射线绝对强度测量的一级标准探测器,并给出了系统的偏差。

  • 标签: 测量系统 软X射线 绝对光强 测量 电离室 标定