简介：本文报道了用电子探针显微分析仪测定了可写入VCD金盘镀金反射层之成色与厚度,并估算了一片VCD金盘的含金量。
简介：本方法利用Au原子在X射线激发下所发射的L_β线和M线的强度比值来区别镀金和K金,同时也利用这个比值的大小来测定镀金层的厚度,测定区范围为0—4μm,测定值与标定值的相对偏差小于12％。
可写入VCD金盘镀金层成色与厚度的测定
EDXRF发射比值法识别镀金层及镀金层厚度的测定
