简介：摘要：传统的嵌入式MCU的AD采样的分辨率只能根据芯片本身的设计确定，如芯片的AD采样为10位，则只能采集到0-1023的AD值。想要提高AD的分辨率，一般只能通过外置一个高精度的ADC采样芯片，通过通讯传输到MCU中，既占用了MCU的通讯资源，也增加了电路的面积及成本。本文以温度的采样为例，阐述一种不增加外围电路的情况下，提高AD采样精度的方法。
一种提高AD采样分辨率的方法
