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  • 简介:摘要:统计过程控制(SPC)是应用数理统计分析来监控生产过程,提升过程能力的工具,主要强调过程的预防,适用于各行业的质量控制过程。本文简述SPC在VDMOS功率器件制造过程中的应用,以对生产过程中发现的问题提出预警,及时解决,恢复过程稳定,从而提高和控制产品质量。

  • 标签: SPC 过程控制 功率器件
  • 简介:摘要:随着电子技术的飞速发展,半导体器件、集成电路的应用也越来越广泛。静电放电ESD在电子元件生产、包装、运输及使用的整个过程中都可能会发生,严重的会造成集成电路失效。本文分析了静电和静电放电产生的机理,探讨其危害及如何进行有效的防护,为电子产品的生产和安全使用提供参考。

  • 标签: 半导体器件 静电放电 损害 防护