简介：采用原子力显微镜（AFM）和X射线光电子能谱（XPS）对不同处理流程后的InP（100）表面粗糙度及化学成分进行测试分析，优选出C、O元素浓度较低，且表面均方根粗糙度影响较小的表面清洗方法。通过比较键合结构的薄膜转移照片可知，表面清洗后的干燥与除气步骤可较好地去除键合界面中的空洞和气泡，从而提高键合质量。键合结构的电子显微镜（SEM）照片，X射线双晶衍射曲线（XRD）及I-V测试分析表明键合结构具有良好的机械、晶体及电学性质。
简介：介绍了一种基于边缘特征的图像配准方法。首先利用Canny算子提取图像的边缘；然后以AM测度作为配准准则，在优化AM峰值和配准参数的时候，先用遗传算法将配准参数收敛到最优值附近，再使用Powell法进行局部搜索；最后对待配准图像进行刚体变换及双线性插值，从而实现图像配准。实验结果表明，此优化方法不仅提高了计算速度，而且提高了配准精度，配准结果达到了亚像素级水平。
简介：为研究光纤法珀传感器中法珀腔结构参数对其条纹对比度的影响,基于光传输矩阵方法,建立了描述非本征型光纤法珀干涉结构中光束传播特性的理论模型。以基于化学腐蚀渐变多模折射率光纤方法制作而成的光纤法珀传感器为例,进行了数值模拟。由模拟结果可以得出,腔长为40μm、曲率半径在85～115μm范围内可以获得较高的条纹对比度。其结果表明,通过优化法珀腔的腔长和形状可以改善光纤法珀传感器反射光谱的条纹对比度。
InP晶片表面优化处理及键合性质分析
基于AM测度及混合优化算法的图像配准方法
基于光传输矩阵方法对EFFP传感器的参数优化研究
