简介：摘要：为对镁碳砖的物理显微结构及化学含量组分进行系统研究,采用光学显微镜、电子探针及能谱仪、X射线衍射仪等物理设备对微观结构和物相组成进行分析,并利用X射线荧光光谱仪、碳硫分析仪对主要成分进行含量测定,同时利用电感耦合等离子体发射光谱仪和湿法分析进行结果验证。结果表明:镁碳砖的基本结构由块状MgO及间隙中大量C元素组成,部分还含有Al单质颗粒,或少量片状Ca、Si化合物且多分布于MgO边缘。X射线衍射等物理方法方便快捷,检出物相全面,可根据需要选择K值法或全谱拟合法进行半定量分析,更适合对镁碳砖质量的优劣进行初步筛选判断,化学检测手段准确度高,相互配合使用更适合进行成分的准确测定。
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