简介：依据光纤波导中的电磁场传输基本理论，计算了光纤波导中的电磁场分布、约束系数及色散系数随折射率的变化关系，开展了γ射线对融石英材料及色散位移光纤的辐射实验。实验验证了理论计算结果，得到了折射率及色散系数随吸收剂量的变化关系。计算及实验结果均表明：1）光纤的折射率随吸收剂量的增加而增大，辐射效应使电子密度增大是折射率改变的主要因素。2）折射率的变化会引起传输模式的场强分布变化，从而导致光纤的辐射感生波导损耗；在吸收剂量0～2000Gy内，光纤仍满足弱导边界条件，能够维持对传输模式的约束。3）光纤的色散系数随吸收剂量的增加而增大，在吸收剂量0～500Gy内，光纤色散增加量呈逐渐饱和趋势；暴露在核辐射环境中的长距离光纤，其快脉冲光波信号将产生展宽畸变。

简介：通过建立一个典型的金／硅界面结构模型，对X射线入射界面时的剂量增强效应进行了研究。采用MonteCarlo方法计算了不同能量X射线入射金／硅界面的输运过程。其中，对X射线产生的次级电子在介质中的输运，采用了单次碰撞直接模拟方法；对电子的弹性散射截面和非弹性散射截面，分别采用Mott微分截面和Born近似下的广义振子强度模型计算得到。研究计算了不同能量X射线入射下，金／硅界面的剂量增强系数及特定X射线能量下剂量增强系数随金厚度的变化规律。结果表明：X射线能量为几十至几百keV时，剂量增强效应最明显，最大剂量增强系数对应的X射线能量随距金／硅界面的距离增加而增加；金的厚度影响界面附近剂量增强效果，当X射线能量不变时，剂量增强系数随金的厚度增加而增加，并趋于饱和值。

简介：在脉冲X射线测量中,当出射X射线粒子总数低于108时,通过闪烁体成像测量角分布的方法难以获得结果。提出了一种将准直孔阵列、快时间响应闪烁体和多路延时光纤相结合的电流型测量方法,通过记录不同角度的瞬时脉冲波形,能够实现ns以下小焦斑快脉冲X射线角分布的测量。基于该方法研制的测量系统在亚ns重复频率快脉冲硬X射线源上进行了实验验证,获得了距源20cm处的角分布数据。