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4 个结果
  • 简介:制备了金属-铁电层-绝缘层-半导体(Pt/Bi3.15Nd0.85Ti3O12/YSZ/Si,MFIS),研究了该的存储窗口电压、疲劳特性和高温保持特性。结果表明:该的存储窗口电压随扫描电压的增大呈先增大后减小的趋势,其中最大存储窗口电压约为0.88V且存储窗口电压的变化几乎不受扫描电压的扫描速度与频率的影响;该在109次翻转循环后,其积累电容和耗尽电容基本没有变化,且存储窗口电压仅下降了5%。另外,该在80℃下加速测量8h(相当于常温下测量60d)后,加速后器件的电容差比加速前降低了13%,说明该抗疲劳特性和高温特性良好。

  • 标签: 铁电存储器 MFIS 存储窗口 疲劳 保持 BNT
  • 简介:由实验测得的磁滞回线数据的是一系列离散、带噪声的值.通过约束最小乘方法对曲线进行分段拟合,使曲线的畸变程度得到了改善,准确地表达磁滞回线的特性,为磁材料的定量分析述提供了基础.

  • 标签: 磁滞回线 约束最小二乘法 拟合
  • 简介:用有限时域差分方法(FDTD)对比研究了下列维光子晶体的带隙:第1组,半径r=0.2μm圆柱,折射率n=4,晶格常数a=0.4μm;第2组,半径为r=0.2μm圆柱,折射率n=4,晶格常数a=0.6μm;第3组,内半径r1=0.1μm,外半径r2=0.2μm,折射率n=4,晶格常数a=0.4μm;第4组,内半径r1=0.1μm,外半径r2=0.2μm,折射率n=4,晶格常数a=0.6μm,并且对每一组光子晶体进行挖孔操作,然后比较不同填充率对光子晶体材料的带隙的影响,以及同种材料和结构、挖孔对带隙的影响。对于紧密排列的维光子晶体,挖孔会使带隙向长波方向移动;对于填充率小的光子晶体,或者环形柱维光子晶体,中间挖孔不影响带隙的范围。

  • 标签: 光子晶体 FDTD 带隙 二维 填充率
  • 简介:通过观摩《函数观点看一元次方程》片段教学后的反思,结合华罗庚先生说过的"数缺形时少直观,形缺数时难入微",通过三道例题的拓展,让学生感受数形结合的好处、直观和简便,感受数形结合的数学思想在初中数学学习中的重要性.教学中,要让学生深入理解函数图像与方程的关系,教会学生如何作图,体会以形助数和以数解形的数学思想方法.

  • 标签: 函数与方程 拓展 数形结合