简介:摘要半导体器件在测试结壳热阻之前都要先确定其K系数,一般选择器件内部二极管的正向压降作为温度敏感参数(TSP)。现行有效的测试标准中,只是规定正向压降测试电流IM必须足够大,以保证PN结导通,但不能大到足以引起明显自热,这对实际的操作选择很困难。本文通过MOSFET和肖特基二极管作为研究对象,在不同的IM下测试K曲线进行分析,得出便于操作的方法。
简介:摘要针对巡视中发现的某变电站主变35kV侧避雷器计数器电流表指针满偏的问题,通过带电检测并结合现场情况排除了计数器本身的故障,确认了该避雷器内部存在泄露电流严重超标的故障,并经解体检查分析了故障原因,通过本次避雷器故障的发现与分析,为今后避雷器的生产制造以及运行维护提出了有效建议。