简介：摘要：在晶体硅光伏组件中,电压诱发衰减（PID）现象普遍存在。该现象会造成光伏组件的性能衰减，光从组件外观上无法看到任何缺陷，却能引起组件功率衰减，严重时性能衰减则能超过50%。因此，PID现象引得业内人士广泛关注。
光伏组件PID检测方法研究
