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利用低角度反向散射电子检测器对纳米尺寸材料进行表征
利用低角度反向散射电子检测器对纳米尺寸材料进行表征
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摘要
在制作新材料之前了解其性质是一项具有挑战性的任务。一般来说,一个尺寸非常小的材料的结构对其性质和功能具有决定性作用。随着表征技术的不断进步,科学家所研究的固体材料越来越接近单个原子的尺寸。扫描电子显微镜法最特殊的功能之一就是可以研究相对较大的样品,比如说那些能够放在手上并且能够达到纳米尺寸分辨率的样品。最新一代的场致发射扫描电子显微镜能够应对表征纳米尺寸材料的挑战。
DOI
7dmo3eqyjn/962154
作者
Craig S. SCHWANDT
机构地区
不详
出处
《生命科学仪器》
2011年1期
关键词
扫描电子显微镜法
纳米尺寸
表征技术
新材料
反向散射
检测器
分类
[机械工程][精密仪器及机械]
出版日期
2011年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
生命科学仪器
2011年1期
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