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厚膜片式电阻器硫化机理及失效原因分析

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摘要摘要随着经济的发展，电源产品的应用逐渐广泛，而其中密封和散热问题是电源产品在生产时需要考虑的重要问题。目前，通过DC/DC模块来进行电源散热的应用较为广泛，但此种防抖会刀子厚膜片式电阻阻值增大，导致出现故障。在本文中，笔者将利用DC/DC模块对电阻进行硫化实验，从而分析出电源失效的原因，并且利用扫描电镜以及能谱的分析，从而深入探析导致电阻器的硫化的原因。

DOI pj076ngvdy/2798175

作者梁建银

机构地区广东风华高新科技股份有限公司广东肇庆526000

出处《基层建设》 2017年20期

关键词厚膜片式电阻器硫化机理失效原因

分类 [建筑科学][建筑设计及理论]

出版日期 2017年12月22日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）