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薄膜厚度对胶体晶体薄膜光学特性的影响

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摘要通过控制温度和湿度,用垂直沉积法快速制备出了不同厚度的高质量二氧化硅和聚苯乙烯胶体晶体薄膜。用透射光谱和反射光谱对制备的样品的光学特性进行了表征,并与理论计算结果进行了对比分析;用衍射光谱中的布拉格衍射峰两侧的波纹测量了薄膜厚度,并对薄膜厚度对其光学特性的影响进行了分析,为用厚度调制胶体晶体薄膜光学特性和实际应用创造了条件。

DOI mpj01o08dy/23899

作者汪静;潘超;曲冰

机构地区不详

出处《功能材料信息》 2009年3期

关键词胶体晶体薄膜光学特性厚度垂直沉积法

分类 [一般工业技术][材料科学与工程]

出版日期 2009年03月13日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）