基于LabVIEW和FPGA的数字电路板比对测试系统设计

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摘要 设计了一种基于LabVIEW和FPGA的数字电路板比对测试系统,该系统利用FPGA产生激励信号并对被测信号进行高速采样及缓存,同时借助于上位机的LabVIEW软件完成对整个系统的控制和被测信号的比对分析。实际应用表明,该系统具有运行稳定可靠、操作方便等特点,为数字电路的故障排除提供了依据。
机构地区 不详
出版日期 2014年02月12日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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